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[参考译文] TMS570LC4357:RAM、EEPROM 损坏验证

Guru**** 2468610 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1005802/tms570lc4357-ram-eeprom-corruption-validation

器件型号:TMS570LC4357


1) 1) RAM、EEPROM 和闪存的损坏验证方法是什么?

2) 2)如何每20秒检查一次 RAM、EEPROM 和闪存以进行验证?

3) 3)此检查涉及哪些模块?

4) 4)我应该参考 TRM 中的哪些部分来了解上述要点?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Aswin、

    请阅读器件 TRM 的第7/8/9章

    启动时、PBIST 测试可以检查整个 RAM 的完整性。 闪存 ECC 自检诊断可检查 CPU ECC 逻辑和 ECC 比较逻辑是否按预期工作。 在应用运行期间、SECDED 接管为有效诊断并防止/通知任何 RAM/Flash 问题。  

    RAM 和闪存的 ECC 逻辑正在持续执行诊断。

    RAM、闪存、ESM