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器件型号：TMS570LC4357 主题中讨论的其他器件：HALCOGEN、
PBIST L2 RAM 测试成功通过、但是在启用 PBIST L2 RAM 测试后应用程序无法运行。
PBIST L2 RAM 测试完成后、main()应用程序开始初始化其他接口、然后卡在 hl_sys_intvecs.asm、中断矢量 b _dabort 部分、该部分继而调用 dabort.asm _dabort 部分、 然后调用 ramErrorFound、然后返回紧密循环中的中断矢量部分、以便其他内容不会运行。
如何防止仅在启用 PBIST L2 RAM 测试后才发生的 RAM 错误情况？
在先前的讨论中提出了以下建议，但未能奏效：
问题可能是 PBIST 引擎没有"释放" L2 RAM、以便其他总线主控可以访问它。 HCG 生成的 pbistStop()函数缺少 PBIST 控制器的复位信号。 下面的函数是更新的 pbistStop()。 请更新 HALCoGen 生成的例程、以匹配以下内容。
void pbistStop(void){/* USER CODE BEGIN (20) */ pbistREG->PACT = 0x0U; systemREG1->MSTGCR &= 0xFFFFFFF0U; systemREG1->MSTGCR |= 0xAU; systemREG1->MSTGCR &= 0xFFFFFFF0U; systemREG1->MSTGCR |= 0x5U;/*用户代码结束*/
}Also, why does TI mark issues as resolved("TI thinks") when they clearly have never been confirmed to work by TI or the TI customer? The exact same question has been asked numerous times without a defined solution from TI as shown below:TMS570LC4357 PBIST L2RAM 测试(源自 SafeTI 库)始终失败。 与之前发布在下面的 TI 问题中的问题完全相同：
TMS570LC4357：PBIST L2RAM 测试(源自 SafeTI 库)始终失败-其他微控制器论坛-其他微控制器- TI E2E 支持论坛
或
e2e.ti.com/.../ccs-tms570lc4357-safeti-library-pbist_l2ram_enable-test-fails-when-using-example-code
或
