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[参考译文] RM48L952:针对 ADC 的 CSP 测试

Guru**** 2763595 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/967200/rm48l952-csp-tests-for-adc

器件型号:RM48L952

您好!

对于设置中未使用的多个通道、我们的 ADC 测试失败。 通道10、11和15在测试输出中分别期望 ADC_PIN_OPEN、ADC_PIN_TO_ADVREF_LOW 和 ADC_PIN_TO_ADVREF_HIGH。 但是、它们具有值 ADC_PIN_Good 、因为这些通道未被使用。  

如果未使用这些通道、我们是否可以声称这些测试不相关、或者出于某种原因使用这些通道很重要?  

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    ADC 自检适用于 ADREFLO 和 ADREFHI 之间的外部输入电压。 但是、它不能很好地与非常接近 ADREFHI 或 ADREFLO 的外部输入电平配合使用。 我不建议在浮动 ADC 引脚上使用 ADC 自检。

    请参阅此主题:

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    谢谢! 但是、我并不完全理解如何对我们的问题应用该答案、因此我需要提出一些澄清问题。

    根据我的理解、我们不应更改测试套件中预定义的 ADC 通道(对于 ADC_PIN_DABLE_TO_ADVREF_HIGH、ADC_PIN_OPEN 和 ADC_PIN_DABLE_TO_ADVREF_HIGH 测试、为10、11和15)、对吧?  

    ADC 自检是否应开箱即用、或者我们需要通过硬件或设置来通过它吗? 目前、我在标准 RM48开发板上运行 CSP 封装提供的 ADC 测试套件。 ADC1组事件全部禁用、ADC2禁用、ADC1引脚4、6和14 - 23禁用。

    此致

    /Avenir

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    您好、Avenir、

    CSP 中包含的 ADC 测试依赖于外部输入激励来确保正常运行。 这些内容记录在 ADC 的测试用例 xls 文件中。 这些测试确实需要根据您的系统设置进行修改。