您好!
对于设置中未使用的多个通道、我们的 ADC 测试失败。 通道10、11和15在测试输出中分别期望 ADC_PIN_OPEN、ADC_PIN_TO_ADVREF_LOW 和 ADC_PIN_TO_ADVREF_HIGH。 但是、它们具有值 ADC_PIN_Good 、因为这些通道未被使用。
如果未使用这些通道、我们是否可以声称这些测试不相关、或者出于某种原因使用这些通道很重要?
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
您好!
对于设置中未使用的多个通道、我们的 ADC 测试失败。 通道10、11和15在测试输出中分别期望 ADC_PIN_OPEN、ADC_PIN_TO_ADVREF_LOW 和 ADC_PIN_TO_ADVREF_HIGH。 但是、它们具有值 ADC_PIN_Good 、因为这些通道未被使用。
如果未使用这些通道、我们是否可以声称这些测试不相关、或者出于某种原因使用这些通道很重要?
谢谢! 但是、我并不完全理解如何对我们的问题应用该答案、因此我需要提出一些澄清问题。
根据我的理解、我们不应更改测试套件中预定义的 ADC 通道(对于 ADC_PIN_DABLE_TO_ADVREF_HIGH、ADC_PIN_OPEN 和 ADC_PIN_DABLE_TO_ADVREF_HIGH 测试、为10、11和15)、对吧?
ADC 自检是否应开箱即用、或者我们需要通过硬件或设置来通过它吗? 目前、我在标准 RM48开发板上运行 CSP 封装提供的 ADC 测试套件。 ADC1组事件全部禁用、ADC2禁用、ADC1引脚4、6和14 - 23禁用。
此致
/Avenir