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器件型号：TMS570LS0432 主题中讨论的其他器件： HALCOGEN
您好、TI 团队、
我目前正在为 TMS570LS0432进行安全测试实施、并遇到了一个问题、我无法解释。 希望您能帮我解决这个问题。
在启动例程中、我执行了以下序列：
PBIST 自检(PBIST ROM + March13单端口)。
- 预期：预期自检失败。
- 实际：自检失败。
2. PBIST 自检(PBIST ROM +三路读取慢速+快速)
- 预期：预期通过自检。
- 实际：通过自检。
3. PBIST 自检(STC ROM +三路读取慢速+快速)
- 预期：预期通过自检。
- 实际：通过自检。
STC 自检(一个间隔、从间隔0开始、self_check_key = Ah、fault_ins = 1)
- 预期：CPU 复位后、自检预计会失败。
- 实际：CPU 复位后自检失败。
5.在 STC 自检后重置所有标志，包括 ESM
STC 自检(所有间隔、从间隔0开始、self_check_key = 5h、fault_ins = 0)
- 预期：预计在 CPU 复位后通过自检。
- 实际：CPU 复位后自检失败(CPU1 =故障、CPU2 =故障、无超时)。
最有趣的是。 如果我更改步骤2和3、则一切都按预期工作(步骤6完成、无故障)。
您是否有任何想法、什么可能是原因？
使用 MCU 器件修订版 B、PBIST4变通办法 无效、但我尝试过。 这没什么帮助。
如果需要任何其他信息、请告诉我。
提前感谢您的支持、
Dmitry
P.S. 从理论上讲、我可以在 STC ROM 检查后执行 PBIST ROM 检查、以使一切正常工作、但很奇怪为什么 ROM 检查顺序对后续测试运行有任何影响。
谁知道它可能产生的其他影响、可能"通过"的测试结果无效。
