This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] CCS/RM41L232:适用于 Hercules 的 IEC 60730

Guru**** 2124380 points
Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/950486/ccs-rm41l232-iec-60730-for-hercules

器件型号:RM41L232
主题中讨论的其他器件:HALCOGEN

工具/软件:Code Composer Studio

您好!

在"IEC 60730和 UL 1998安全标准合规性借助 TI Hercules 变得更加轻松"文档中

在表2下

对于存储器组件、定义为  ECC;对于 SRAM/Flash、地址为可接受的测量值;对于内部数据路径 组件、定义为 带有 ECC 的存储器为可接受的测量值。

两 项可接受的措施是否相同?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Rohith、

    用于访问 SRAM/Flash 的 ECC 逻辑位于 CPU 和内存包装程序(SRAM 包装程序、闪存包装程序)内。 CPU 中的 ECC 逻辑计算数据有效载荷的 ECC、并将计算出的 ECC 与存储器中的 ECC 值进行比较。 ECC 计算不包括地址。

    闪存包装程序 ECC 逻辑使用数据有效载荷和地址计算 ECC、并将此 ECC 写入 ECC 存储器。 当从闪存读取数据时、闪存包装程序将把地址组件从 ECC 中剥离并将重新生成的 ECC 代码提供给总线主控。  

    SRAM 包装程序通过检查地址线路的解码来使用冗余地址解码方案来确保安全。 在 RAM 访问期间比较主地址解码逻辑和冗余逻辑的输出、如果比较失败、则会标记冗余地址错误。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Wang、

    哪些 halcogen 自检 API 可用于内部数据路径 组件。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Rohith、

    闪存 ECC 自检和 RAM ECC 自检的示例函数位于 sys_selftest.c 中:

    空 checkFlashECC (空)

    void checkRAMECC (void)