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[参考译文] TMS570LC4357:CPU 互连和 ECC 错误注入

Guru**** 2611705 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/763612/tms570lc4357-cpu-interconnect-and-ecc-error-injection

器件型号:TMS570LC4357

您好!

我注意到在这篇相关文章 http://e2e.ti.com/support/microcontrollers/hercules/f/312/t/628779?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=emif%20bridge 中, 

互连以进行测试。

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    很抱歉,上一个帖子中出现了编辑问题:

    我在 e2e.ti.com/.../628779这篇相关文章中注意到互连能够生成和评估 ECC。

    因此,我想知道是否可能(例如通过内部诊断或 SCM 寄存器)在 EMIF (或 L2RAM)和互连之间插入 ECC 错误(例如用于测试)。

    谢谢、

    此致、
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    您好!

    EMIF 不支持在任何外部器件上进行 ECC 检查。 到 EMIF 的接口支持到/从 EMIF 的事务的 ECC 检查。 没有机制来自检这个 EMIF ECC 值。
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    好的、

    我想我知道答案,但有一种方法可以在从互连到 L2RAM 的事务之间注入 ECC 错误?

    谢谢

    此致

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    您好!

    互连和 L2 RAM 之间没有注入 ECC 错误的机制。
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    然后、我们如何测试 L2RAM、闪存或 EMIF 桥中的 ECC 评估逻辑是否仍然正常工作?

    假设在运行几个小时后、EMIF 桥的 ECC 评估逻辑失败、并始终给出 ECC 的通过结果。 该故障不会立即造成伤害-它将处于休眠状态。
    然后、在运行更多小时后、内核中的 ECC 生成逻辑失败并开始生成错误的 ECC 代码。 在下一次写入 EMIF 空间时、EMIF 桥将不会检测到内核的事务具有错误的 ECC、事务将到达 EMIF 模块。 然后会发生错误行为。

    因此、我们需要确保从站中的 ECC 校验器仍然有效。 有什么想法吗?

    谢谢、
    Étienne μ A
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    有什么答案?
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    您好 Étienne、

    EMIF 模块本身不支持 ECC 保护。 为了在读取数据路径上提供 ECC 校验和、互连和 EMIF 接口之间有一个 ECC 生成块。 同样、在互连和 EMIF 接口之间的写入数据路径上有一个 ECC 评估模块。

    ECC 生成块和 ECC 评估块中没有故障注入。 为了进行读取、ECC 只在 CPU 中被检查。 对于数据写入、ECC 在评估模块中进行检查。

    您可以使用 CRC 来验证存储在外部存储器中的数据的完整性。 对于 CRC 计算、您可以使用内部硬件 CRC 模块。