很明显、通过 ADC 通道进入的 EMI 会攻击 USB、EMACK 和 GPTM 边沿计数。 奇怪的是、3英寸至6英寸将电线 X11接头连接到通过 EMI 问题屏蔽的直流逆变器、需要由定制 PCB 工程师来应对。 MCU 与 EMI 进入 AINx 通道的接近程度经验证 以某种方式进入 VDD/LDO 或 AHB 并攻击某些外设。 无论 VDD 引脚上添加的大容量电容如何、都无法降低电感 EMI。
为了 避免 USB0、 PHY0的 SCR 闩锁、该补救措施包括更改 AINx 通道上 的去耦电容值、200pf 降至100pf 或更低。 如何 允许更多 EMI 进入 MCU 停止 PHY 闩锁 、然后 立即崩溃 USB0并影响 GPTM 边沿计数? EVM X11 Booster Pack 接头 和 OTG 端口 都不受同一 EMI 源的影响。 我们 没有合适的实验室环境来发现差异所在。
TI 是否 考虑 更新 TM4C1294设计指南以保护 MCU 暴露在 直流逆变器等 EMI 源附近? 同样、EVM X11、 Booster Pack 接头误导 工程师 TM4C1294 MCU 主要不受 EMI 干扰、因为 OTG、PHY、GPTM 边沿计数器不受相同 EMI 源的影响。