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[参考译文] TMS570LC4357:有关闪存数据 ECC 区域测试的问题

Guru**** 2609955 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/763603/tms570lc4357-question-about-test-of-flash-data-ecc-area

器件型号:TMS570LC4357

您好!

我们需要测试 Fprom 组0和组1 (0x00000000至0x003FFFFF)以及相关的闪存数据 ECC 区域(0xF0400000至0xF0480000)。

这是我们的过程:
1-擦除闪存组0 /组1并对相应的闪存数据 ECC 进行编程
2:使用0x00值对 Bank0和组1进行编程、并对相应的闪存数据 ECC 进行编程
3-读取并检查闪存组1和2并检查数据= 0x00、不会发生 ECC
4-擦除闪存组0/bank1和相应的闪存数据 ECC
5-读取并检查闪存组0和1并检查数据= 0xFF 且无 ECC 发生
6-只擦除 闪存数据 ECC (0xF0400000至0xF0480000)、闪存组0和1不变(0xFF 值)
7-读取并检查闪存数据 ECC = 0xFF、不会发生 ECC
8 -只对闪存数据进行编程具有0x00值和闪存组0和1不变(0xFF 值)的 ECC (0xF0400000至0xF0480000)
9-读取并检查闪存数据 ECC=0x00并且没有 ECC 发生


这是我的问题:

1-对于步骤6至9、是否可以在闪存数据 ECC 区域中写入和读取闪存组0和1中没有相干数据?  在这种情况下是否存在闪存 ECC 检查?
2 -如果 ECC 发生、是否仅检查闪存数据 ECC 区域的擦除操作?

此致、

François μ A

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Francois 您好、

    在这个基于 R5的器件上、ECC 在缺省情况下被启用并且不能被禁用。 编程和擦除由一个状态机完成、并且可在闪存存储器上完成、而无需对 ECC 进行编程。 在不擦除/编程主闪存区域(组0和组1)的情况下、ECC 区域不能被擦除和编程。

    您可以在不读取闪存数据(组0和组1)的情况下读取 ECC 数据。