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[参考译文] TM4C1290NCPDT:EEPROM 与闪存

Guru**** 2539500 points
Other Parts Discussed in Thread: TM4C1290NCPDT

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/800256/tm4c1290ncpdt-eeprom-vs-flash

器件型号:TM4C1290NCPDT

大家好、

我的客户正在使用 TM4C1290NCPDT、需要大约~3-4 KB 的常规数据存储。 这些块分为~10个块、每个块300-400字节、并将在产品的整个生命周期内重写~5k 次。 他们对有关 TM4C1290NCPDT 的 EEPROM 与闪存写入特性有一些疑问。

对于 EEPROM、您如何设计系统以避免出现"复制到复制缓冲区、复制缓冲区需要擦除"的情况、因为它们具有不可接受的最大写入时间。  您能否更深入地了解这种方法的工作原理?  调用第8个写入后、是否始终需要擦除?  重启电源后、该计数器是否复位?

对于闪存、主要问题在数据表中、其中说明"当闪存组中执行闪存存储器操作写入、页擦除或整体擦除时、禁止访问特定组对。" 应用程序已经占用了大于300k 的只读存储器,并且希望避免停止应用程序的常规周期性进程。

似乎我们已经在使用全部4个闪存组中的某一部分来存储应用。  除了将指令移入 SRAM 以保持应用程序运行之外、还有其他替代方法可以分割一个不会影响应用程序执行的小型(3k - 4K)闪存块吗?

最后、有一个关于闪存扇区的很好的描述、但他们对时序特性中描述的闪存页的构成感到困惑。

您能否澄清他们的问题、并告知您如何以最佳方式解决 EEPROM 或闪存的问题?

谢谢、

Matt

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    由于3到4KB 的数据被重新编程~5K 次、因此无法避免擦除时间。 它们的最大写入时间是多少? 如果它们不能接受60ms 写入16个32位字(64字节)、或者不能接受240mS 写入400字节、则需要查找其他形式的片外非易失性存储器。 如果可以、则使用仿真的 EEPROM。 使用主闪存组是不切实际的。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您提到、60ms 写入时间用于16个32位字(64字节)。  我的印象是、这仅适用于表27-33 EEPROM 特性中的1个32位字(4个字节)。 您能确认这是正确的吗?

    此外、鉴于我们正在研究在产品生命周期内只向任何给定的存储器位置写入5k 次的可能性、我们是否可以安全地假设我们将始终处于"<10%的 EEPROM 耐久性已使用"类别?  如果不是、我看到最大写入时间可以扩展到接近1800ms。   出于好奇、这是否会线性扩展?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    60ms 时间用于页面已满、需要移至复制缓冲区且复制缓冲区已满的情况。 因此、需要两次擦除。 当块中的单个32位字被更新时、会发生这种情况、但即使在块中的所有16个字被更新时、也只发生一次。 (换句话说、无论您更新一个字还是16个字、最坏情况下的时间大致相同。)

    是的、5K 周期意味着它们肯定始终处于耐久度的前10%以内。 该时间不会线性缩放。 它主要保持恒定、然后随着擦除氧化层中的陷阱形成、在生命周期结束附近呈指数级增加、并增加擦除时间。