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[参考译文] RM48L940：闪存 ECC 测试

admin
Guru**** 2207170 points
Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH, NOWECC, RM48L940
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/798093/rm48l940-flash-ecc-test

器件型号：RM48L940
主题中讨论的其他器件：UNIFLASH、 NOWECC、

我正在尝试更好地了解闪存 ECC 测试的工作原理。

  1. 我记得、为了支持闪存 ECC、我必须对一个特殊的映像进行编程、这是我的应用程序加 ECC 位、因为闪存与 RAM 不同、在对闪存进行编程时不会自动即时生成 ECC 综合征。 是这样吗？ 如果是、如何使用嵌入式 ECC 生成此类特殊映像？ 我可以参考任何文档吗？
  2. 目前、我使用 IAR IDE (或 UniFlash)通过 JLINK 探针对闪存进行编程。 然后、我尝试运行闪存 ECC 测试。  闪存上的1位 ECC 测试似乎通过、但闪存上的2位 ECC 测试导致处理器挂起。 鉴于上面的#2、如果我没有嵌入式 ECC 的二进制文件、闪存上的1位 ECC 测试是否通过？
  3. 为什么在闪存上进行2Bit ECC 测试失败？

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    TI__Guru**** 2207170 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好！
    在启用 SECDED 前、所有 ATCM 程序存储器空间(闪存组0至1)的 ECC 值必须被编程到闪存中。
    nowECC ( http://www.ti.com/tool/nowecc )可用于生成正确的 ECC 值。 UniFlash 具有自动 ECC 生成选项以及 CCS。
    在 RM48L940上、默认情况下不启用闪存 ECC。 您必须启用它。
    如果函数成功执行、SL_SelfTest_Flash 将返回 true、否则返回 false

    此致、
    米罗