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器件型号：RM48L940 主题中讨论的其他器件：UNIFLASH、 NOWECC、
我正在尝试更好地了解闪存 ECC 测试的工作原理。
- 我记得、为了支持闪存 ECC、我必须对一个特殊的映像进行编程、这是我的应用程序加 ECC 位、因为闪存与 RAM 不同、在对闪存进行编程时不会自动即时生成 ECC 综合征。 是这样吗？ 如果是、如何使用嵌入式 ECC 生成此类特殊映像？ 我可以参考任何文档吗？
- 目前、我使用 IAR IDE (或 UniFlash)通过 JLINK 探针对闪存进行编程。 然后、我尝试运行闪存 ECC 测试。 闪存上的1位 ECC 测试似乎通过、但闪存上的2位 ECC 测试导致处理器挂起。 鉴于上面的#2、如果我没有嵌入式 ECC 的二进制文件、闪存上的1位 ECC 测试是否通过？
- 为什么在闪存上进行2Bit ECC 测试失败？
