主题中讨论的其他器件:CC1190
团队、
我们对其中一款基于 CC430F 的产品进行了射频测量、并注意到载波频率附近出现意外杂散发射。
我们做了一些实验来研究导致有害发射的原因、但我们无法找到准确的答案。 我们有相同的 PCB、具有相同的软件编程、但其中一些 PCB 具有"良好"的杂散、其中一些 PCB 的杂散过高-请参阅随附的印刷屏幕、了解载波频率附近杂散发射的测量结果。
黄色迹线为"良好"、蓝色为"不良"。
如果有用、我们可以离线共享原理图和 PCB 布局。
您是否有任何建议、硬件的哪些部分可能会导致上述杂散增加(可能是 xtal)?
晶振频率为27、0MHz。 我们希望在2个频率下工作:869,52MHz 和868,3MHz。
感谢你的帮助
TI 客户

