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[参考译文] MSP-SA430-SUB1GHZ:使用 SA430加上一个用于工厂测试的脚本

Guru**** 2611325 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/769571/msp-sa430-sub1ghz-using-sa430-plus-a-script-for-factory-testing

器件型号:MSP-SA430-SUB1GHZ

您好!

我已经阅读了这篇文章、但无法给出令人满意的答案:

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz/f/156/t/651412?tisearch=e2e-quicksearch&keymatch=SA430#pi320995=3

简介:我的想法是使用 SA430进行工厂测试。 受测器件发出以载波频率为中心的正弦波信号、我想使用 SA430测量 dBm 以检查是否存在:

a)是以信号为中心的信号、或者 DUT 的晶振可能已关闭、然后

b)如果信号强度为指定值。

我设法通过 UART 与 SA420通信、并发送初始命令并检索我的第一次扫描。

我还不清楚的是、如何将检索到的 U8数据集(如果我没有弄错、总共可提供181个样本)转换为可读的 dBm 值?

我检查了 GUI 应用程序的源代码、但浏览代码时、代码似乎并不是100%最新(?)。 我的理解是、首先我从 SA430单元读取校准数据。 应以某种方式使用该数据从 U8值计算 dBm 值、对吧?

通过查看示例代码、逆向工程相当困难。 我已经尝试过、但我的计算结果是不现实的值。 我不确定校准数据的解析是否正确(因为代码看起来可能不是最新的)、如果我在正确的路径上、我看不到如何进行调试。

您能否帮助解释如何根据校准数据计算 dBm 值? 是否有关于校准数据组织方式的信息?

非常感谢您的帮助、

Henry