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器件型号：TMS570LC4357 您好！
我们使用的是 TMS570LC4357，我们需要有关时钟测试模式和外部时钟预分频器(ECP)功能的更多信息？
我们的理解是、时钟测试模式和 ECP 具有两种功能、但具有相同的引脚 ECLK1。
-时钟测试模式通过 CLKTEST 寄存器0x5的 CLK_TEST_EN 位启用、并且由于 SYSPC1寄存器0x1的 ECPCLKFUN 位、可以在 ECLK1引脚上看到监控的时钟。
-我们希望使用 ECP 功能(频率在 ECLK1引脚上分频)，但我们希望使用时钟测试模式。
-如果我们只想使用监控和预分频器(ECP)功能来监控 VCLK 或 OSCIN (通过 ECPCNTL 寄存器配置)、我们是否需要启用时钟测试模式(通过 CLKTEST 寄存器的 CLK_TEST_EN 位)并配置 CLKTEST 寄存器(例如 SEL_ECP_PIN 位)？ 或者、由于 SYSPC1寄存器0x1上的 ECPCLKFUN 位、只有处于功能模式的 ECLK1引脚就足够了？
此致、
Christopher
