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你(们)好
我尝试使用 ADC 来捕获本地交流电源的降压电压波形参数。
在示波器上、它是 ADC 引脚上的50Hz +/- 1V 正弦波。
想知道是否有人共享用于捕获频率和 Vpk 的示例代码?
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你(们)好
我尝试使用 ADC 来捕获本地交流电源的降压电压波形参数。
在示波器上、它是 ADC 引脚上的50Hz +/- 1V 正弦波。
想知道是否有人共享用于捕获频率和 Vpk 的示例代码?
[引述 USER="Ronni"]在示波器上 、它是 ADC 引脚上的50Hz +/- 1V 正弦波。[/quot]
除了供应商代理的指导之外、您还必须确保您的交流信号具有足够的"电压电平偏移"、这样波形的负下降(其谷底)绝不会低于 ADC 的"最小电压输入规格"。 (0VDC) 如果您的输入信号(实际)将1V 的电压驱动至低于 MCU GND -这是严重违反"MCU 规范!" "交流输入信号"的所有部分都必须保持 ≥ 0V 和≤3V3"-以符合 MCU 的 ADC 规格。 (这里有人可能声称"交流包络的正半部分可能达到5V"-我认为(及时)这种"过多输入"可能会损坏-也许更重要的是 - ADC 对高于3V3的信号"视而不见" (仅将其报告为3V3) 因此,这 种做法具有风险,不符合(任何)衡量 标准!
没有提到"精确度"。 您 的目标应该是准确的"V_Peak "测量值:
通过外部(或内部)模拟比较器-您可以通过其"通过信号的'识别电压电平'点"来确定交流信号的频率。 外部比较器可实现宽松的"迟滞"、从而确保清晰的输出信号转换、这对于如此稳健的测量至关重要。 然后、如果 您升级到"命名"而不是"其他" MCU、您的"IP"会立即"可重复使用"。
BTW -如果模拟比较器处于"运行状态"(更好的仍然是"R2R"运算放大 器)-则可以实现经典的硬件"电压峰值检测器"。 这证明非常出色 、因为 它通过高奈奎斯特采样率实现了对峰值电压的正确"捕获"、同时避免了对 ADC 施加的要求! (以及哪个(仍然)- 无法 保证 捕获"绝对峰值电压"-因为您(仅)有一个'±11°窗口' - 以正弦波的'90°V_Peak '为中心-以实现 ≥98%的精度! 错误快速/强制到达-"11°峰值测量窗口"的"外部"!)
还请注意、硬件峰值检测 器具有"内置"采样保持功能 -大大减少(即有可能消除) 先前建议的"仅 ADC "方法所强制的激进时序需求。
谢谢我的朋友-"帮助者"并不总是得到感谢-尤其是当他们(远离)供应商代理时。
请注意、MCU 中有一些"保护结构"尝试"吸收"超出电压范围的情况。 这些元件很小-(不)用于"长期"电压吸收。 如果依赖这些(保护/ESD)元件、则必须始终限制电流、但经过大量调查发现、(偶尔)而非(持续)使用证明了这些引脚的"最佳"生存...
对于您对"封装解决方案"(也称为"标准功能")的"希望"、该供应商已选择(不)"为您带来"自定义解决方案"的乐趣。 还应考虑您拥有的"在 MCU ADC 范围内投射您的解决方案(仅限)"。 在测量"频率"-您是否不会使用 MCU 的扩展定时器-证明(两者)更快且更容易? (赦免-但海报所指的"解决方案"-请(不)始终-证明是最好的或甚至可行的... 解决方案。)
频率测量帮助程序:
如前文所述-使用"外部模拟比较器"可检测信号通过(高于或高于)预设跳闸点的通道。 (由简单的"2 R -分压器"确定) 当比较器的输出被馈送到 MCU 时-可能会生成一个"中断"和/或 MCU 计时器可能会"记录该事件的(接近)确切时间"。 然后-下一个(完全生成)比较器输出-可能与"捕获/记录"类似-并且这两者之间的值差异-如您所知-与频率相关(反比)。 (较大的定时器'delta'(差异)表示较低的频率) 对于此类频率测量功能、您(现在)是否同意使用 MCU 的定时器(或2个定时器)比 ADC 更胜一步?
除了可能有趣之外: 除非您能做到、"强制您的 ADC 在"精确已知的"时间点"进行测量-然后搜索/扫描(接近)相同的 ADC 值(这表明您(可能)在(接近)相同的(重复/跟踪波形点)进行测量 -我不知道您如何从 MCU 的低功耗 ADC 中"获取此类功能"! 很明显-上述"计时器方法"似乎是一种出色的解决方案。 您的“希望”(并经供应商批准) ADC 方法... 相反、当我的年轻员工"到达太远了"时、他们会充当"整洁的酷刑车"、超级聪明的员工! (全天-每天...)
ADC 测量帮助程序:
另一个建议的小型文件(single_end.c)遵循"V_Peak "测量的"十英尺规则"(10英尺内未出现)-这不是真的?
在(或许)这些问题的答案中:
您说、"没有提到前面建议的硬件、添加了"电压峰值检测器"-它被呈现为"极大地加速/放松/增强"(有多好!) -您对"V_Peak Detection、Capture & Eased Measurement"的需求。 添加此类硬件(尽管 MCU 包含"合理"运算放大器作为一项功能时不需要此类硬件)可显著简化 ADC 的测量、因为"完全消除了 ADC 采集的所有"时间限制"! (即硬件"捕获峰值-然后"保持峰值"(在合理的持续时间内)。
供应商的"不断扩展到任务列表"不可能包含此类"独立"功能、但我们可能会感到惊讶。 我在这里的目的是(希望)激发您的思考和考虑——通常超出了“总是和只”的限制范围... MCU 作为"整体解决方案!" 相反-"(包括) MCU 和选择硬件的分类组合"-通常情况下(如此处清楚地说明)-证明是最好的! 可重复使用的硬件在"最高容量应用程序"之外的所有应用程序中都保持了其应有的位置、并且(非常)这些应用程序中很少有人会到达这里...
我的朋友-再次感谢您的回应和善良奖-始终很感激。
虽然"标记为大规模部署"-这是否 意味着"及早而不是(远)后-上市"证明是至关重要的? "压力"是否会变得巨大-随着周的过去-以及采用的"过于复杂"(根据我的经验)方法(始终/仅 MCU 的 ADC)-'面临过度挑战的边界?'
当"基本部署"是一个目标时、还需要考虑其他关键项目。 ARM Cortex MCU 组包括:M0、M0+、M3、M4 (此处所示)和 M7。 现在(两者) M0和 M0+器件实现(显著)成本降低! (être 其'存在理由'!') 它们还采用尺寸更小的封装、可减小电路板尺寸、从而进一步降低成本。
这种"广泛/战略思维"可能(再次)"以"更快、更轻松、更强"的方式实现设计目标"、这对于"整体部署"至关重要。 (此外、对于更"合理"(更低)的销售预测、"尽早成功地进入市场"可实现"最高利润率"、而那些"过早优化"(MCU 仅尝试)的(挣扎中)则会延迟(太频繁) (或从不)到达、并 大幅降低利润率、同时还会带来根深蒂固的竞争!