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[参考译文] TM4C1294NCPDT:这是否会导致微控制器闩锁?

Guru**** 2562120 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/819641/tm4c1294ncpdt-could-this-cause-the-micro-to-latch-up

器件型号:TM4C1294NCPDT

在我的一个原型中、在闪存代码后、当我尝试通过 JTAG 对其进行调试时、微控制器会变得很热、我会尝试找出原因。

在此设计中、微控制器由正常电源供电、并由超级电容器提供支持。 当正常电源被移除时、Vcc 将由超级电容器供电、 并在10秒内从3.3V 逐渐下降至0。 如果 XDS100v3连接到微控制器的 JTAG 端口、它可能仍然尝试与微控制器通信、因此 JTAG 线路上的电压高于微控制器的"Vcc"、这是否会给微控制器带来问题?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    在该器件上将输入引脚驱动到高于 Vdd 的电压绝不是一个好主意。 JTAG 引脚被二极管钳位到 Vdd。 您需要将注入电流限制为2mA 或更低。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Bob、

    在对海报 David 的"详细记录"回复中、向您致敬。

    该图表(尤其是参数表示法)最有价值、应予以赞赏。   

    在我 (过去)在另一家巨人半公司的"旅行"中、我们制作了类似的图表、并发现、   当 MCU 处于"未供电"状态时、I/O 电极的"暴露时间过长"(偶数)达到"具有规格电压和/或电流电平"-(可能)提高了 MCU (早期)故障的可能性

    许多此类测试是在器件处于"晶圆上"时执行的- (时间)是"本质!"  在这种情况下、"与时间相关/触发减弱"的检测可能会通过"无注释!"