由 ADC1或 ADC2转换的同一输入信号之间的转换结果差异大于预期。 以下是我们的详细配置：
ADC 通道分配：
ADC1 (组2)：Ch5、Ch6、CH7、ch13、ch22
ADC2 (组2)： Ch5、Ch6、CH7、ch8、ch9、 CH12、CH14
如粗体所示、通道 ADC1[22]和 ADC2[6] 在同一引脚上进行多路复用、并 连接了精确的4.096V 并联基准。 转换由硬件触发器同时触发。
所有 ADC 时序与 Tacq= 6 * tADCLK 相同、因此每次都能按照上述顺序同时采样 ADC1和 ADC2。
使用以下配置设置：
VCLK1CLK=90MHz
ADCLK = 22.5MHz
12位转换分辨率
ADC1[22]和 ADC2[6]的理论转换结果将产生：((4.0973 * 4096)/ 5.0214)-0.5 = 3342
采用上述配置的转换结果为：
ADC1[22]= 3341或3342
ADC2[6] = 3334或3335 (值过低)
由 ADC1或 ADC2转换的同一输入信号之间的转换结果差异大于预期。 在本例中、差异约为7个计数。 然而、当通过改变 G2SAMP 寄存器中的 G2_ACQ 值来改变时序时(对于 ADC1一个时钟周期更长、对于 ADC2一个周期更短)、采样之间的差异按预期消失(1或0计数)、给出如下：
ADC1[22]= 3341或3342
ADC2[6] = 3341或3342
另一方面、在不改变时序的情况下、我们在较高温度下测试了一个电路板、在大约85摄氏度下差异消失。
在 第9页的芯片勘误表(TMS570LS12x/11x 微控制器芯片版本 B)中列出了一个与 ADC#1名称相似的问题。 勘误表中建议了两种权变措施。 第一个问题与我们尝试的方法类似、是更改计时。
因此，我们有以下问题：
1-勘误表中列出的问题和建议的解决方法是否与我们目前遇到的问题相同并在上面进行了介绍？
2-您是否还会在勘误表或其他解决方案中建议权变措施？
3 -当温度超过85摄氏度时、您如何解释不再存在此问题？
提前感谢您的支持！
此致、
Ugur Keskin
