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[参考译文] 故障注入到&quot；内存 Arrey&quot；和&quot；SRAM 阵列&quot；

admin
Guru**** 1797640 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137, HALCOGEN
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/573971/fault-injection-to-memory-arrey-and-sram-array

主题中讨论的其他器件：TMS570LS3137、 HALCOGEN

我使用 TMS570LS3137 [http://www.ti.com/product/TMS570LS3137]并阅读"SafetyManual (SPNU511D)"。

是否可以将 故障注入 测试实现为"Memory Arrey"和"SRAM Array"？

此致

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    TI__Guru**** 1797640 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Arriy、

    这有点是一个开放式问题、因为可以考虑许多类型的误差。 如果有具体问题、请告诉我、但最常见的是 SRAM 中的 ECC 错误或外设存储器中的奇偶校验错误。 您可以在 SafeTI 诊断库中找到这些类型的功能测试程序、该诊断库可从 www.ti.com/.../SAFETI_DIAG_LIB 免费下载和使用。 讨论中的大多数诊断程序都包含在这个诊断代码集中、此诊断代码可在 HalCoGen 驱动程序代码之上执行。 文档也包含在安装目录的/doc 子目录中。

    此外、如果你在 HalCoGen 内选择安全启动、这个过程中也包含一些针对 ECC 和奇偶校验诊断的测试。
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    TI__Guru**** 1797640 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    感谢你的答复。

    我的问题很抱歉。
    我想对硬件实现的"xx 阵列(例如、闪存存储器阵列中的 FLA6位多路复用)"的安全机制提出疑问。
    我认为、此安全机制无法实现或不存在故障注入。

    此致
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    TI__Guru**** 1797640 points
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    Arrey、

    还有另一篇文章广泛讨论了位复用诊断测量。

    您可以在以下主题中看到有关此主题的更多信息： e2e.ti.com/.../2109983

    由于这是一个用于避免故障的基于硬件的功能、因此不可能对该诊断执行任何故障插入。
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    TI__Guru**** 1797640 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    你好、Chuck
    感谢您的回答。

    我也提到了另一个主题、因此我理解这一点变得很清楚。

    此致