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[参考译文] RM42L432:如何在 RM42L432的 TCRAM 中实现位多路复用方案?

Guru**** 1796780 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/574561/rm42l432-how-does-the-bit-multiplexing-scheme-implement-in-tcram-of-rm42l432

器件型号:RM42L432

请参阅 RM42x 的安全手册(SPNU553B.pdf),主嵌入式 SRAM 有许多诊断程序。  

一个诊断是“Primary SRAM Array (主 SRAM 阵列)中的位复用”。

我的问题: (1) 在主 SRAM 中如何实现位多路复用方案?

              (2) RM42L432 器件的所有存储器是否采用相同的位复用方案?

   

             

提供了一个针对 RAM8诊断的故障避免测试。

我的问题:   "避免故障" 的含义是什么?  以及如何认证"故障避免"?

感谢您的回复。

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    [引用 USER="user4693815"](1) 主 SRAM 中如何实现位复用方案?[/引用]

    位多路复用与 RAM 的架构有关、与位单元的物理位置相关。 如您在帖子中包含的段落中所述、"用于生成逻辑(CPU)字的访问位在物理上不相邻。 该方案有助于降低物理多位故障导致逻辑多位故障的可能性..."

    [引用 user="user4693815"](2)是适用于 RM42L432 器件所有存储器的相同位复用方案?[/引用]

    每个具有 SRAM 的元素都有自己的唯一标识符、用于指示对于包含 RAM 的元素、这是否也是内存中包含的一项功能。 注意第7.6和7.4节还讨论了特定存储器实例的位复用。

    [引用 user="user4693815"]

    提供了一个针对 RAM8诊断的故障避免测试。

    我的问题:   "避免故障" 的含义是什么?  以及如何认证"故障避免"?

    [/报价]

    一般而言、安全标准 IEC61508和 ISO26262不涵盖故障避免的实例、仅指故障。 在这种情况下、通常情况下、ECC 会提供一种机制来即时纠正故障、使其永远不会影响应用。 尽管这不会影响器件的总体诊断覆盖率、但由于避免了故障、因此它确实会影响 FIT 率计算。 此外、由于系统的最终需求是保护安全功能、因此它满足安全系统的最终目标、因此需要包含在内。

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    [引用 user="Chuck"]

    用户4693815
    (1) 主 SRAM 中的位复用方案是如何实现的?

    位多路复用与 RAM 的架构有关、与位单元的物理位置相关。 如您在帖子中包含的段落中所述、"用于生成逻辑(CPU)字的访问位在物理上不相邻。 该方案有助于降低物理多位故障导致逻辑多位故障的可能性..."

      

     我的问题是: "位多路复用与 RAM 的架构有关、与位单元的物理位置有关。"    在哪里可以找到详细描述 RAM 架构的相关文档? 我已阅读数据表、技术参考手册和安全手册。 但是 ,只有 CPU SRAM 的块级实现。  

    用户4693815

    提供了一个针对 RAM8诊断的故障避免测试。

    我的问题:   "避免故障" 的含义是什么?  以及如何认证"故障避免"

    一般而言、安全标准 IEC61508和 ISO26262不涵盖故障避免的实例、仅指故障。 在这种情况下、通常情况下、ECC 会提供一种机制来即时纠正故障、使其永远不会影响应用。 尽管这不会影响器件的总体诊断覆盖率、但由于避免了故障、因此它确实会影响 FIT 率计算。 此外、由于系统的最终需求是保护安全功能、因此它满足安全系统的最终目标、因此需要包含在内。

    在我们的设计中、我们必须遵守上述标准。  换言之、我们必须为每个诊断机制提供测试、或者我们应该提供认证、证明所用诊断机制在条件下不会出现故障。  
    谢谢。

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    在这种情况下、"诊断测量"是一种故障避免机制、不归类为真正的诊断和。 因此、没有诊断测试。 它是 RAM 位单元的架构实现。 它是自动的、因为它不是应用程序可以禁用或启用的与软件相关的机制。 它与 CPU 的物理多样性相似、除了锁步 CPU 的物理方向没有直接量化的影响、在这个字内位的物理分离影响一个双位故障的可能性并且直接影响瞬态 FIT 率的情况下。

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    感谢您的回复。

    "这是 RAM 位单元的架构实现。"
    您能描述一下架构实现细节吗? 我对此感到困惑。

    非常感谢。
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    第一篇文章中已经介绍了该架构布局。

    CPU 以64位块的形式访问 RAM。 在这64位内、没有任何位单元在物理上位于 RAM 块中与它们相邻的位置。 因此、如果存在来自宇宙事件(辐射、α 粒子或 β 粒子)的干扰、64位字内的可能多位故障的原因将最小化。 如果一个位出现故障、则 ECC 逻辑会对其进行校正、从而实际上避免了存储器故障。

    强调 的是、作为诊断的内存块内 RAM 位单元的物理布局。