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[参考译文] 使用 SPI/MibSPI 回路模式的故障注入测试

Guru**** 1794070 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/572262/fault-injection-test-with-spi-mibspi-loopback-mode

主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137

你好。

我将使用"TMS570LS3137 [ http://www.ti.com/product/TMS570LS3137]"并阅读"安全手册(SPNU511D)"。

我执行 "MSP1A:使用 I/O 回路的功能的引导时间软件测试"和"SPI1A:使用 I/O 回路的功能的引导时间软件测试"。

在此测试中、插入"desync error"、"BitERR"、"parity errors"、"timeout error"、 使用 I/O -回送测试控制寄存器(IOLPBKTSTCR)的"数据长度错误"。

通过此操作、是否还可以对以下安全机制进行故障注入测试?

- MSP2:消息中的奇偶校验和消息中的 SPI2:奇偶校验

- MSP12:位错误检测和 SPI8:位错误检测

- MSP13:从器件去同步检测和 SPI9:从器件去同步检测

- MSP14:从机超时检测和 SPI10:从机超时检测

- MSP15:数据长度错误检测和 SPI11:数据长度错误检测

此致

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    您好 Arriy、

    是的。 这是 IOLPBKTSTCR 寄存器的目的是引入错误并检查诊断措施捕捉故障的能力。