[参考译文] TMS570LS3137：关于使用 I/O 回路的 HET5A 引导时间软件功能测试

您好！

技术参考手册第20.2.5.7节详细定义了各种环回运行模式。

[引用用户="user4777395"]·模拟环回是否可以使用数字环回功能进行识别，因为信号可能从引脚输出，而其他 IC 可能会损坏？

本质上、在模拟模式下、信号必须跨越逻辑边界进入模拟输入和输出缓冲器、以测试信号的完整路径、其中数字回路不会超出器件的数字逻辑。 如果仅使用数字回路、则可能会错过缓冲器结构内的故障、甚至器件外部短路导致的问题、因为它将在引脚上拾取信号。

[引用 USER="user4777395"]·如果是数字回送，则如果两对都是输出，最好切换输出并尝试每次回送[/quot]

请注意、在引导时的函数测试不必是最终的 N2HET 程序、因此可以通过在 HET 程序存储器中加载和重新加载不同的测试版本来更改 IO 方向。 您的主要问题是查找潜在故障、包括短路/开路和卡在故障中、具体取决于您的系统功能。 如果外部组件损坏有问题、则应在测试设计中考虑这一点、并注意这是由于系统实施而导致的限制。

[引用 user="user4777395"]·回路时，是否需要在写入和读取之间等待？

一般来说、可能会有一些延迟、但我以前没有看到过这种情况是由问题引起的。

你(们)好 、Chuck。

>本质上、在模拟模式下、模拟输入和输出缓冲器中的信号用于测试信号的完整路径、其中数字回路不会超出器件的数字逻辑。

>仅使用数字回路，缓冲器结构内的故障可能会丢失，甚至来自设备外部设备的问题都将在引脚上拾取信号。

模拟环回是一种需要形成环回电路的识别。
在该电路设计中、很难形成回路电路。
在这种情况下、还有另一种检测方法可以通过模拟回路检测故障？

>请注意、在引导时 N2HET 程序对函数进行测试、因此可以通过在 HET 程序存储器中加载和重新加载不同的测试版本来更改 IO 方向。

我很抱歉不知道这一点。

使用 I/O 回路的功能的引导时间软件测试被寄存器操作识别、它是否使用 HET 代码？

[引用]模拟环回是一种需要建立环回电路的识别。
在该电路设计中、很难形成回路电路。
在这种情况下、还有另一种检测故障的方法应该由模拟回路检测到？[/报价]

这不是一个真实的说法。 使用模拟环路时、无需在您的设计/PCB 中创建物理环路。 模拟回路仍在器件边界内完成。 区别在于它超出了模块数字逻辑的范围。 为清楚起见、请考虑下图。

请注意、在图中、显示为"A"的区域是模块的数字逻辑部分、显示为"B"的区域是用于将数字信号输出到现实世界(仍在芯片内部)的模拟缓冲器、 而标有"C"的区域位于芯片外部或器件的引脚电平上。 请注意检查 IO 路径的不同路径。 具体而言、请注意跨越边界的差异以及使用哪个模拟缓冲器。

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>请注意、在引导时 N2HET 程序对函数进行测试、因此可以通过在 HET 程序存储器中加载和重新加载不同的测试版本来更改 IO 方向。

我很抱歉不知道这一点。

我在这里看到的消息似乎有点令人困惑、因为有些自动更正更改已完成。 我的目的是声明、如果您正在检查 HET IOMM 的更改、则您不必使用与您在应用中使用的相同 HET 程序进行测试。 IOMM 回送测试的目的是确保正确的输入和输出缓冲器被连接至所用模块的数字逻辑(在这个情况下为 HET)。 您可以对 HET 引脚进行一些简单的 GIO 使用、以证明您可以通过数字逻辑/寄存器切换输出和读取输入。

[引用]使用 I/O 回送的功能的引导时间软件测试被寄存器操作识别、是否使用 HET 代码？[/quot]

我不知道您在这里要问什么、但我相信您正在推动一个有关如何在寄存器级别实现回送的问题？ 因此、每个模块都将具有 TRM 中定义的回路功能。 在某些情况下、没有定义特定的回路功能、并且是 IO 缓冲器设计中固有的功能。 例如、要测试 GPIO 功能、只需设置输出方向、将输出驱动为高电平和低电平、并读取输入寄存器中的输入以查看输入缓冲器的相应变化。 对于其他 IP、可能需要进行系统级测试以检查路径和功能。 在这种情况下、您需要了解芯片上模块的操作及其如何适应系统应用、以确定确保正确操作并与总体系统性能需求保持平衡的最佳方法。

谢谢你。
得益于图、我了解了模拟和数字之间的差异。

在此系统中、HET 计划使用 HET 代码而不是 IO 的 PWM 输出。
在这种情况下、我应该执行什么回送测试？