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[参考译文] 关于 quot;RAM3"的诊断方法

Guru**** 1791630 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137, HALCOGEN
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/571606/about-diagnostic-method-of-ram3

主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137HALCOGEN

我目前使用的是 TMS570LS3137。
(参考文档="TMS 570LS31x 和 TMS570L21x Hercules 基于 ARM 的安全微控制器用户指南的安全手册")

请告诉我有关"RAM3"项目的信息。

"安全手册"包含以下内容。
>> 7.101主 SRAM 可纠正的 ECC 分析
>>当错误计数超过一个用户设定的阈值时、一个错误事件被发送给 ESM。

(1)当超过阈值时、ESM 上的哪个通道会收到错误通知? (组、信道)

>Cortex-R4F PMU 事件导出也必须被启用才能使这个函数运行。

(2)哪些寄存器将启用此功能?

此致、

Sazabi

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    Sazabi、您好!

    ECC 错误计数阈值特性是闪存包装程序的一部分、需要启用并配置阈值。 配置后、它将触发设置 GOUP1通道6 ESM 标志。

    在 HalCoGen 生成的代码中、PMU 事件导出已经被配置为正常启动的一部分、因为即使对于不可纠正的 ECC 错误、也需要这样做。 汇编函数_coreEnableEventBusExport_();由 Halcogen 生成,具有所需的所有初始化。