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[参考译文] TMS570LS3137:关于 ADC 7 MibADC SRAM 内容的定期硬件 CRC 检查

Guru**** 1791630 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/571239/tms570ls3137-about-adc-7-periodic-hardware-crc-check-of-mibadc-sram-contents

器件型号:TMS570LS3137

我使用 的是 TMS570LS3137

ADC 的静态内容是什么?
它是否与不同于静态配置寄存器的其他识别相匹配?

CRC 校验是否涵盖转换结果?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    此测试的有效性将受到内容静态程度的限制。 也就是说、如果 ADC 转换处于紧密环路或连续模式、那么在数据不断变化的情况下、这个诊断也许没有多大意义。 但是、如果数据在足够长的时间内保持恒定、并且数据尚未复制到 SRAM 供使用、则对数据进行 CRC 校验可能是一项有用的工作。 这将非常依赖于应用。 一般而言、检查 FMEDA 数据将发现、此安全措施不会考虑器件的整体 SFF 或 DC 以供假定使用。