[参考译文] TMDSHSECDOCK：错误-2131 @ 0x0

Renan、您好！

是的、如果他们仍然能够正常连接到其他控制卡、这可能是一个硬件问题。 如果是这种情况、我可能无法提供解决问题的方法、但我们可能仍然可以诊断问题。  

如果客户仍然对调试感兴趣、那么我想知道当您使用 Code Composer Studio 打开 CCS 项目的目标配置、然后使用'Test Connection"选项时会发生什么情况。 这将测试 JTAG 到您的器件的连接、其输出日志可能会提供  一些关于发生错误的线索。 请从"测试连接"发布输出日志。  

如果客户能够使用示波器查看您的信号、他们应该会看到与我在"测试连接"时相同的模式、由于特定的调试器而具有很小的可变性。 下图显示了 TDO (黄色)、TMS (紫色)、TCK (蓝色)和 TRST (绿色)。 这是"测试连接"序列的开始、我在 TMS 的下降沿将其作为单个序列触发。 所有信号均为3.3V 数字信号。

如果您更仔细地放大、您应该在开始时看到这种相同的图案。  

我想知道客户是否看到了不同的东西。 根据硬件问题的类型、我希望 TDO 看起来与我的示波器屏幕截图不同。

此致、

Ben Collier

您好 Benjamin、

以下是"测试连接"的输出日志：

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]

---- [打印电路板配置路径名]---------------

/Users/claudio/.ti/ccs1120/0/0/BrdDat/testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100/110/510类产品。
此实用程序将加载适配器'libjioserdesusb.dylib'。
库构建日期为'17 2022'。
库构建时间为'14：27：39'。
库软件包版本为'9.7.0.00213'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

您好、Claudio、

此错误消息表示 JTAG 扫描路径有问题、器件根本不循环位。 由于 Renan 说此问题发生在控制卡上、因此这不是布线或信号质量问题。 在某种程度上、F2837x 器件本身上的边界扫描寄存器发生故障。 如果您使用示波器探测信号、我们可能会详细了解出现了什么问题、如我在上一次答复中所述。 遗憾 的是、我认为我们不太可能找到不涉及更换硬件的解决方案。  

此致、

Ben Collier

您好 Ben、

祝你一切正常、感谢您的回答。 请参阅以下来自 Claudio 的更新：

我能够在论坛中发布来自"测试连接"的输出日志、但现在无法发布我获得的示波器屏幕截图。 然后、我将把它们发送给您、以便您可以将它们发布给我。
它们都显示 TMS 信号以及文件名称中指定的 TCK、TDO 或 TRST。

e2e.ti.com/.../1460.image.zip

此致、

Renan

Renan、您好！

看起来没有来自目标器件的 TDO 信号、所以器件会受到一些硬件损坏、从而影响 JTAG 功能。 遗憾的是、我认为您必须更换该器件。  

此致、

Ben Collier