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[参考译文] TMS570LS3137:如何为 TMS570LS3137实施和测试 ECC ROM

Guru**** 2004165 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1165577/tms570ls3137-how-to-implement-and-test-ecc-rom-for-tms570ls3137

器件型号:TMS570LS3137

您好!

我想为控制器实施和测试 ECC ROM、您能提供帮助吗?

此致、

罗尼。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Rohini、

    TMS570LS31x 微控制器通过专用的单纠错双纠错(SECDED)逻辑来保护对片上闪存和 SRAM 存储器的所有访问。 SECDED 逻辑实现方案使用 ECC 来校正单位错误 、并检测从闪存或 SRAM 读取的值中的多位错误。 默认情况下、CPU 内的 SECDED 逻辑不启用、必须由应用启用。

     ECC 使能后、从闪存或 SRAM 读取数据时连续执行 ECC 诊断。 ECC 错误(单位或双位)将报告给 ESM、并且2位 ECC 错误也会生成中止。 无需软件代码即可计算和比较 ECC 值。  

    安全诊断库(SDL)具有闪存自检和 RAM 自检功能。

    --

    谢谢、此致、

    Jagadish。