[参考译文] RM57L843：OTP 温度传感器校准值

您好、Demitri、

以下链接演示了如何使用片上温度传感器：
www.ti.com/.../spna216.pdf

我们将查看您的测量结果。

此致、
问

文档已经过审核、我的代码与描述内容一致。

OTP 校准值似乎错误。

当然：

float s2_sum_temp = otpREG->S2TEMP1 + otpREG->S2TEMP2 + otpREG->S2TEMP3；
float s2_sum_val = otpREG->S2TEMP1VAL + otpREG->S2TEMP2VAL + otpREG->S2TEMP3VAL；
float s2_temp_x_temp =((otpREG->S2TEMP1 * otpREG->S2TEMP1)+(otpREG->S2TEMP2 * otpREG->S2TEMP2)+(otpREG->S2TEMP3 * otpREG->S2TEMP3))；
float s2_temp_x_val =((otpREG->S2TEMP1 * otpREG->S2TEMP1VAL)+(otpREG->S2TEMP2 * otpREG->S2TEMP2VAL)+(otpREG->S2TEMP3 * otpREG->S2TEMP3VAL)；

s2_slope =(((s2_temp_x_temp * 3)-(s2_sum_temp * s2_sum_temp)))/((((s2_temp_x_val * 3)-(s2_sum_temp * s2_sum_val)))))；
s2_offset =(s2_sum_val -(s2_sum_temp / s2_slope))/ 3；

float S3_sum_temp = otpREG->S3TEMP1 + otpREG->S3TEMP2 + otpREG->S3TEMP3；
float S3_sum_val = otpREG->S3TEMP1VAL + otpREG->S3TEMP2VAL + otpREG->S3TEMP3VAL；
float S3_temp_x_temp =((otpREG->S3TEMP1 * otpREG->S3TEMP1)+(otpREG->S3TEMP2 * otpREG->S3TEMP2)+(otpREG->S3TEMP3 * otpREG->S3TEMP3))；
float S3_temp_x_val =((otpREG->S3TEMP1 * otpREG->S3TEMP1VAL)+(otpREG->S3TEMP2 * otpREG->S3TEMP2VAL)+(otpREG->S3TEMP3 * otpREG->S3TEMP3VAL)；)

s3_slope =((s3_temp_x_temp * 3)-(s3_sum_temp * s3_sum_temp))/((s3_temp_x_val * 3)-(s3_sum_temp * s3_sum_val)))；
s3_offset =(s3_sum_val -(s3_sum_temp / s3_slope))/ 3；

浮点偏移= 0.0；
浮点斜率= 0.0；
uint16_t val = 0U；


开关(传感器)
｛
情况(TEMP_SENSOR_2)：
adcREG2->GxSEL[1U]= 0x80000000U；/*启动温度传感器*/
偏移= s2_offset；
Slope = s2_slope；
中断；
情况(TEMP_SENSOR_3)：
adcREG2->GxSEL[1U]= 0x40000000U；/*启动温度传感器*/
偏移= S3_OFFSET；
Slope = S3_slope；

中断；
默认值：
返回-1；
｝

/*等待转换*/
while (！(adcREG2->G1SR & 1))｛/* Spin Wait */｝

Val = adcREG2->GxBUF[1U].BUF0和0xFFFU；/*获取值*/

adcREG2->GxSEL[1U]= 0x0；//设置两个温度传感器*/


返回((float) val - offset)*斜率；

是否有任何更新？

我们是否应该在内部进行温度校准、而不是信任 OTP？

谢谢！

您好 Dmitri、

我转到此主题的顶部以获取有关原始问题的更多信息。 如果 OTP 中的校准值正在读取0xFFFF、则从未对其进行编程。 这很可能是因为您有早期器件样片、而不是生产器件。 器件顶部标记的器件型号上是否有 TMP 而不是 TMS？ tmp 部分是预生产的，在那里有一定百分比的生产测试被实施，而有些没有。 在这种情况下、似乎温度传感器校准尚未完成。

我建议 OTP 中的值为0xFFFF、然后执行您自己的校准、但如果不是、则可以按原样使用它们。 这可能只是针对您的开发的权变措施、并在使用完整的生产器件时采用。 实际上、如果您从 OTP 中为生产器件读取0xFFFF、我会在制造测试期间将其失败并返回 TI 进行评估、因为这意味着部分生产过程被跳过。

感谢您的回复 Chuck、

问题在于、这些值不是我所使用的芯片上的0xFFFF、而是 TI 提供的 HDK。

OTP 中的值为：

S2TEMP1 303K
S2TEMP1VAL 1957

S2TEMP2 233K
S2TEMP2VAL 1533

S2TEMP3 398K
S2TEMP3VAL 2520


使用这些值和读取的读取值：1331、转换后的值为：198.877K、这是不现实的。 从 OTP 值来看、如果您看到值1533读取233K、而我的 ADC 报告的是1331、这是合理的。

我再次尝试使用以下值对另一个温度传感器进行双重检查：

S3TEMP1 303
S3TEMP1VAL 1882

S3TEMP2 233
S3TEM2VAL 1464

S3TEMP3 398
S3TEMP3VAL 2456

我获得了一个读取值：1281、转换值：202.751K、同样、我们应该将 OTP 值看作一个被转换为233K 的1464。

温度传感器读取的值在测试过程中、在凉爽或温暖的环境中绝对会发生变化、因此传感器工作正常。 编程的 OTP 值不允许我对温度进行彻底的解码。 这可以通过对温度读数进行内部校准而不是信任 TI OTP 值来缓解。 这是建议的步骤吗？ 这只是前几批产品是否有缺陷？

我尝试过几个 RM57芯片、结果相同、HDK 芯片没有在闪存中编程的值、因此无法在 TI 提供的电路板上进行测试。

我认为这可能是 OTP 校准期间 ADREFHI 为3.3V 的问题、而系统 I AM 使用5V ADREFHI。

情况可能是这样。 我不知道他们在什么条件下计算了 OTP 值。 我将与我们的 OTP 专家核实这一点、并与您联系。