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[参考译文] TMS570LS3137:电子保险丝中的 ROM 类型?

Guru**** 2331900 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/596352/tms570ls3137-type-of-rom-in-efuses

器件型号:TMS570LS3137

电子保险丝使用哪种类型的 ROM?

是否是制造商熔断保险丝以写入位的 PROM?

还是电荷泵中存储的位? 与 NAND/NOR 闪存类似?

*元朗区。

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    布罗斯南

    顾名思义、它们是在制造过程中熔断的保险丝、用于配置器件的某些部件。 一旦它们被熔断、就不会再返回。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、Chuck、

    在 SPNU499B–2012年11月–2013年8月修订的文档中、电子保险丝控制器、第1719页。

    它讨论了3类错误。

    3类错误表示读取由 ECC 校正的电子保险丝时出现单个位故障

    位。 仍有可能正常运行、但系统现在面临更高的风险、未来出现不可纠正的错误。

    当发生可纠正的错误时、ESM 组1、通道40将被置位。 所示的流程图中

    在下面的图32-1中、通过直接读取电子保险丝错误状态寄存器来确定单个位错误、

    而不取决于电子保险丝控制器和 ESM 之间连接的完整性。

     

    SEUS 导致 ECC 逻辑错误。

    如果电子保险丝是 PROM、则电子保险丝不受 SEUS 影响。

    为什么从电子保险丝读取会导致 ECC 逻辑纠正的位错误?

    电子保险丝或电子保险丝控制器中是否有非 PROM?

    谢谢。

    *元朗区。

     

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    您好、Brossnan、

    您可以正确地看到、由于软错误、电子保险丝位错误不太可能出现。 但是、仍然有可能引入永久性故障。 长期磨损问题以及 ESD 相关问题等许多因素都会导致永久性结果。 这两种情况都可能导致电子保险丝未熔断、或由于金属迁移导致电子保险丝重新建立连接熔断。