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[参考译文] RM48L952：RM48L952：有关 BIST 的更多信息

admin
Guru**** 1791630 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS20216, TMS570LS3137
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/570838/rm48l952-rm48l952-further-information-on-bist

器件型号：RM48L952
主题中讨论的其他器件：TMS570LS20216、 TMS570LS3137

你好
我的客户询问在哪里可以找到 BIST 所执行测试的描述、尤其是每个测试需要多少处理时间(持续时间/机器周期)。

我们已经在 spna128c.pdf 上找到了应用报告、但这是指 TMS570、我们不确定是否应该使用为 TMS570LS20216或 TMS570LS3137提供的数据、甚至是其他器件。

您能否告知我们可以从何处获取这些信息以及 LBIST 是否有类似的内容。

此致

Bob 熏肉

  • 0
    TI__Guru**** 1791630 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Bob：

    运行的 PBIST 测试是针对 RAM 的 March13N 和针对 ROM 单元的 Triple Read Fast。 在104页的数据表中给出了在每个 RAM 块上的每个测试上执行所需的周期。 右侧的4列指定器件上每个 RAM 的时间、以周期为单位。

    对于 LBIST、测试不是定义的、而是主要侧重于 ATPG 并停留在故障测试。 时序被细分为多个间隔、这样整个测试可以在应用期间或在引导时一次性进行、并且可以在很长的一段时间内完成时间分片和执行。 有关时间间隔的详细信息、请参见第73页的数据表6-9。

    该数据表可从 www.ti.com/.../rm57l843.pdf 下载