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[参考译文] EMIF (外部存储器接口)功能的诊断方法。

Guru**** 1791630 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/570328/about-diagnostic-method-of-emif-external-memory-interface-function

主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137

我目前使用的是 TMS570LS3137。

我正在编写一个程序来诊断"外部存储器接口(EMIF)"功能是否正常工作。
(参考文档="TMS 570 LS 31 x 和 TMS 570 L 21 x 基于 Hercules ARM 的安全微控制器用户指南")

请告诉我有关"EMF1"商品的信息。

"安全手册"包含以下内容。
>>信息冗余技术可由软件应用为一个针对这个模块的附加运行时间诊断。

(1)通过选择常规内存测试(例如步行测试、步进测试)并实施测试、可以满足上述 EMF1描述吗?
(2)如果不能满足(1)、可以实现哪种功能来满足此描述?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!
    信息冗余的示例是使用校验和来添加所需冗余。 内存测试(例如步进和步进)会破坏外部内存的内容。 内存测试也是一种诊断、用于检查外部内存的良好状况。 它实际上不会检查外部存储器到 CPU 之间的路径。