[参考译文] CCS/TMDXRM46HDK：对于 ADC1和 ADC2、我们如何检测不会影响两者的特定故障

根据 RM44手册、可能需要执行一些测试来发现特定故障。  在配置中读取并发现 ADC1或 ADC2不再具有匹配配置将是可能的情况。  如果有人可以从下面的选项中考虑其他有价值的测试结果、请告诉我。  

以下测试可用作此模块的诊断(在上提供诊断覆盖)

特定功能)：

•JTAG 端口的硬件禁用

•引导时间输入自检

•引导时间 MibADC 校准

•定期 MibADC 校准

•MibADC 信息冗余技术

•MibADC SRAM 数据奇偶校验

•MibADC SRAM 的引导时间 PBIST 检查

•MibADC SRAM 的定期 PBIST 检查

•MibADC SRAM 阵列中的位复用

•MibADC SRAM 内容的定期硬件 CRC 检查

•静态配置寄存器的定期软件回读

•已写入配置的软件回读

•在 GIO 模式下使用 I/O 检查的功能的引导时间软件测试

•在 GIO 模式下使用 I/O 检查的功能的定期软件测试

•信息冗余技术(在 GIO 模式下)

以下测试可应用于此模块上的诊断测试、并可用于满足

ISO26262的潜在故障指标要求(与初级诊断上的其他诊断结合使用)

功能)：

•奇偶校验逻辑的软件测试

•奇偶校验位存储器的 PBIST 测试

•硬件 CRC 的软件测试

•CRC 自动覆盖

•PBIST 的软件测试

•PBIST 自动覆盖

•内部安全装置

•外部安全装置

•CPU 锁步比较

•闪存数据 ECC

•RAM 数据 ECC