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[参考译文] TMS570LC4357:ADREFHI/ADC 故障吸引

Guru**** 2455360 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/633408/tms570lc4357-adrefhi-adc-faillure

器件型号:TMS570LC4357

您好!

我们正在使用 TMS570LC4357开发一个新系统。 系统在室温使用中工作正常。 但是、一旦我们完成热循环测试(至85C)、ADC 就会失败。 所有输入都提供相同的比例结果、即在相同的电压下、结果是相同的。  ADREFHI 消耗的电流为17mA、并降低了基准(2.8V 而非3V)。 我们已经对多个单元进行了测试、所有测试似乎都未通过 ADC 转换。 由于它们是用尼龙制成的、因此很难对其进行故障排除。

我们正在尝试找出是什么故障导致 ADREFHI 输入失败、并消耗比规格预期更高的电流。 热循环后测量的所有其他电压正常且在规格范围内。 唯一的故障电压是 ADREFHI。

如果有人有类似的问题或类似 ADREFHI 的失败诱惑、请告诉我。

更多详细信息:

ADREFHI:3V - REF5030AQDRQ1

ADREFLO:0V

VCCAD:3.3V - TPS65381QDAPRQ1

VSSAD:0V

我的假设之一是、如果 VSSAD 降至0V 并且 ADREFHI 仍为3V、 那么 ADREFHI 是否会短路钳位并损坏过压钳位?

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    您好 Ben、

    您能否澄清 Vsad 和 Vccad 上的电压电平? 您所写的内容将与我预期的内容向后兼容? 即、VCCAD 应为3.3V、VSSAD 应为接地基准。
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    尊敬的 Chuk:

    你是对的、我在帖子中反转了两者。 因此、它们的接线正确。 请记住、所有这些单元在正常温度下都工作正常、只是在温度循环后失败(~ 500个周期)

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    感谢您的澄清、Ben。

    实际上、我唯一能提供的解释就是组装或电路板中的某种缺陷、这种缺陷会导致某个位置的连接短路或故障。 对于该器件、85C 是相对较低的温度、我不会指望会出现任何问题。 经生产测试可达到125C。

    当您指出在给定相同输入的情况下、所有输入的 ADC 结果都以相同的方式作出反应时、您能否确定在 ADCREFHI 降低的情况下结果是否合理准确? 即、ADC 逻辑是否正常工作?

    您提到了当 ADREFHI = 3V 时 VCCAD=0V 的可能性、这个条件将是令人担忧的。 ADREFHI-VCCAD 的这种组合很可能会激活器件中的一些寄生泄漏路径、从而导致电流过大、并由于额外的负载而导致基准电压随后下降。 如果发生这种情况、路径可能会保持活动状态、直到出现将其停用的情况、例如在数据表中确定的限值(即 ADREFHI <=VCCAD)内的下电上电并校正 VCCAD 和 ADREFHI 的关系。
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    感谢您的输入卡、

    实际上、我们在许多产品线中都使用了这种芯片。 我们通常不会遇到这些问题。 这就是我试图找出什么类型的应力(电气)会对芯片(ADC 部分)造成永久性损坏的原因。

    在开始产品验证的另一项工作之前、我正在尝试找出答案。 所有这些合作都付出了高昂的代价。

    至于 ADC、逻辑是好的、增量是成比例的。 但00h 为高电平~500mV。 在 ADC 部分中确实会出现某种损坏。

    根据您所说的、如果当 ADREFHI = 3V 时 VCCAD=0V、则会产生一个临时问题、但没有什么会永久损坏 ADC? (在短路情况下 、ADREFHI 最大值为~20mA)。 尽管我知道您不能从远距离进行故障排除、但对该问题提供答案将有助于消除低硫化。

    谢谢

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    Benjamin、

    很抱歉、我已经离开了这条线、但没有有效地回复您。 要触碰底座、此问题是否仍在继续?

    为响应您的最后一篇文章/声明、预计在情况发生后器件的整个上电周期中会存在漏电路径。 如果在后续的每个下电上电时都发生相同的情况、则可能会出现相同的现象。 如果您保证 VCCAD 在下电上电期间永远不会小于 ADREFHI、它是否仍然具有您所描述的偏移?