[参考译文] TM4C123GH6PM：断电时的程序损耗

在形成和提出"适当分析"之前、需要更多的事实。

您不提供有关您或您的董事会制作者"专注技能水平和经验"的详细信息。   这很重要-不是吗？

该供应商提供了一份最全面的"电路板设计指南文档"-您是否"阅读、理解和遵守"了该文档？    请注意，"不了解法律"不能为违法行为提供辩护；同样，"不了解该供应商文件"也不提供辩护。   (您必须在启动此类设计之前利用"每项技术优势、路标！")

您声称"有一段时间的成功运营"这一事实证明非常好。   

话虽如此-您的失败是因为：

• 功率循环数
• 简单的时间通过(即、就像执行能力一样、"漂移")

这不能从您的写作中得到。

在新的电路板上-"一切"都可疑。   必须为每个/每个 MCU 引脚(尤其是电源引脚)供电并进行适当处理。   

您的电路板原理图是否经过专业审查和批准？   是否采用了组件、"所有已知都正常？"   电路板是否正确焊接- MCU 在处理和组装的每个方面是否都有适当的"ESD 防护"？

这些只是一些问题-(任何)新电路板设计提出的要求。   您可能会注意到、要进行深思熟虑和有效的分析、需要许多"硬事实和最新事实"。。

考虑到所面临的许多挑战、这种董事会的创立(肯定是 LPAD 成本的倍数)可能不会"有意义！"   

而是开发(LPAD 连接) PCB (例如添加的 PCB -仅限于您需要的特定(添加的)功能)-通常提供"声音更强且可达的目标！"

与往常一样、构建"一个 PCB "可提供非常虚假的经济性。   (即无经济舱！)   多个电路板可检测讨厌的"单板异常"-单板-提供此类异常功能！   (从不好！)

哇-在方法上有如此"差异"！   然而-是否(每一个)都有他们的位置？

"以 MCU 为中心"(来自供应商)与" PCB /组装/组件"问题-(来自外部人员。)    由于对"全新" PCB 的"要求"、我敢打赌"电路板设计/组装/元件问题"可能是10：1……

仅从文章的构造/内容以及海报的最新发展来看、任何"引导加载程序"的使用似乎都是远程的...   (我们将看到-分析所有事实(如在 Eng 学校之外教授的)通常证明非常有用...)

尊敬的 Bob：

器件上的程序不进行任何闪存编程或擦除。 我将按照您的建议检查闪存内容并与您联系。

此致、

富兰克林

在第二篇帖子中、有"太多"是新的且有用的-最好包含这样的"初始"。

您会注意到板(奇异)功能已持续数月-不会降级。   我们是否要假定电源在"几个月"的整个过程中(持续)打开。   (赦免-这似乎不太可能-确实值得确认)

您现在注意到、"不是一个电路板"-但不提供所生产的"批量大小"的指示。   "问题的频率和/或受影响电路板的百分比"是否起作用-因此证明有必要揭示？

最后、"设计/装配/质量"描述对您来说似乎"没有效率。"   我们可以问：“你是如何得出这样的结论的？”   

您的电路板(或电路板)经受了这种(罕见的畸形)、而许多其他"专业设计/组装/合格的电路板"不清楚地指出、"设计/组装/质量"是"主要可疑因素"吗？   如果不是这样-那么"all mand"落在 MCU 上-并且这种缺陷会被"长时间记录"-这种可能性是否不大？

如果您没有、"重新利用 JTAG 引脚"-这证明了避免引入杂散信号的"最佳做法"。   "将 JTAG 引脚切换到 GPIO 输入、然后将每个引脚接地"可能会很有用。   这样应该会消除"JTAG 上的瞬变"、这是一个原因。

您报告的问题"罕见"-我们所有公司(数千家)的定制电路板都将 JTAG/SWD 布线暴露在板级接头上-我不能忘记"任何"电路板成为受害者-正如您报告的...   作为最长的论坛参与者之一-我也不记得有任何问题(登录此处) -也与您的问题非常相似。   不知为何-无论您的(未解释的)阻力如何-"设计/组装/质量"-您的电路板所独有-(继续)要加快！

很好的设计和展示罗伯特-做的很好。

这里的海报--"即将结束"--却没有解释或证明其逻辑/思维过程--削弱了其可信度。   "高度可疑"区域或事件的不明"防御"无法轻松/实现、"有效解决问题！"

再次-海报到达这里-无法"自解"-但(以某种方式)尝试"指示"诊断流程...

我没有写入 EEPROM。 很可能是硬件问题、但我试图了解哪些因素会影响 MCU 闪存的完整性、因为我以前没有遇到过这个问题。 涉及闪存完整性的任何问题都是相关的。 我不是在 Launchpad 上运行该程序、因为外设映射完全不同、但我将在不存在此问题的类似设计/电路板上尝试使用该程序。

[引用 USER="CB1_MOBIT]"JTAG 引脚切换至 GPIO 输入、然后将每个引脚接地"可能会很有用。   这应删除"JTAG 上的瞬变"作为原因。[/quot]

海报(今天)指出："我正在尝试了解哪些因素会影响 MCU 闪存的完整性。"

此(较早)发布的建议是否满足您(最新和早期)的类似请求？