[参考译文] RM57L843：有关应用勘误表 DCC#24变通办法的问题？

您好 Canfoderiskii、

我正在调查此问题、下周早些时候我将与您再次联系。

Michael、

问题在于计数器的计时、可能会受到时钟同步问题的影响。 这是因为逻辑由 VCLK 驱动、计数器由其相关的源时钟递增。 由于部分时钟周期或读取时转换计数、这会导致周期计数出现潜在错误。 这可能会影响状态位以及计数器的直接读取。 由于这通常是一个会导致错误失败而不是错误通过的问题、因此我通常建议您使用状态位进行正常检查并在发出故障通知时执行变通测试、以确定故障通知是否正确。 另一种选择是在连续监控模式下使用 DCC、而不是单次触发模式。 在连续模式下、由于一段时间内的多个测试、误差被自动平均。

感谢您的详细答复。

卡盘、

感谢您的回答。 我希望恢复工作能够顺利进行
您和您的家人。

1) 为了澄清由于线程劫持引起的问题：
我使用的是 TMS570LC4357、而不是 RM57L843。 DCC#24和 SSWF0221#45是
问题、因为我的处理器的勘误表相同。 一
我尝试实施 DCC#24变通办法来修复详细的 SSWF0221#45
TI 提供的权变措施。

针对 Candideriskii 的问题提供的变通办法建议
是使用 DCC 连续模式并实现连续应用
检测器。 我的系统已经有了一个连续的监视器、其形式为
外部安全装置。 如果时钟错误、则使用外部看门狗监控器
将导致处理器在应用程序无法启动时复位
时间。 我无法向系统添加新的连续显示器。 我要做的是
在上电复位和停止应用时隔离实际的 PLL 问题
处理、而不是让问题一直持续到看门狗跳闸。

2) 我还有关于当前勘误表文档以及什么的问题
到目前为止、线程中已经提到：

a.)对 SSWF0221#45变通办法进行了详细说明
是否需要更新关联的源代码？

b.)我不清楚如何在中实施 DCC#24权变措施
单次模式、方法是"进行多次测量并减去固定值
偏移或丢弃异常值"、如勘误表中所述。 这是什么意思
当发出"完成"信号时、我应该读取 DCC 计数并执行这些操作
操作？ 我不确定我何时应该读取计数、否则。 有多少
这应该在我可以把 PLL 称作良好之前完成多少次？ 没关系
是否设置了"Error"位、因为根据您的建议、存在一些错误
可能会出现误通过？

c.)如果我将 DCC 更改为使用连续模式、那么我需要等待多长时间
在我调用 PLL 正常之前连续运行？ 如果我在中遇到错误
连续模式、在我知道 PLL 之前可以接受多少个误差
不好？ 连续模式是否消除了错误通过和错误故障？

Michael、

[引用 user="Michael DeClerck">针对 Canderiskii 的问题提供的变通办法建议 是使用 DCC 连续模式并实施连续应用 监控器。 我的系统已经有 一个外部看门狗形式的连续监控器。 如果时钟错误、当应用程序无法启动时、外部看门狗监视器将导致处理器复位。 我无法向系统添加新的连续显示器。 我要做的是
是在上电复位时隔离实际的 PLL 问题并停止应用处理、而不是让问题一直存在直到看门狗跳闸。

与我们的大多数答案一样、系统级问题和要求始终可以发挥作用。 在这种情况下、您提到您还使用外部 WD 来持续监控器件和程序执行情况。 如果是这种情况、并且您认为您的 WD 周期足够准确、可以捕获系统中所需的变化程度、那么这肯定是一种有效的机制。 但是，我想问，您有什么备份？ 即、如果 WD 电路中存在故障、但未能触发错误、是否存在二级机制、甚至可能还有一种 WD 诊断模式、在该模式下、您可以在需要进行错误检测之前确定潜在故障？

最后、这归结为器件时钟元件的安全操作。 为此、我们在安全手册中重点介绍了几种不同的诊断。 其中包括使用 DCC 的 CLK3和使用外部 WD 的 CLK5C。 这两种解决方案都提供了显著的覆盖范围、可满足 ASIL-D 或 SIL3系统要求。 请注意、强烈建议将序列感知 WD 用于任何外部 WD 实现。

如果我们考虑 SSWF0221#45勘误表、则需要在频率锁定后立即检查频率。 为此、无需使用 DCC。  例如、您还可以通过设置环路来利用 RTI、在该环路中、您可以手动计算在预期的 PLL 频率下执行 RTI 所需的周期数。 如果您启动 RTI 计数器(选择与 PLL 不同的源、以 OSCIN 为例)、则执行具有已知周期数的直线路径或循环 SW 流、 然后读取 RTI 计数器并根据代码执行的 RTI src 时钟与系统时钟的数量与预期值进行比较。 这实际上与 DCC 的操作相同、无需担心时钟同步问题。 另一种方法是将 WD 的系统测试与 PLL 测试相结合。 即、设置延迟环路以自动触发 WD。 如果在 WD 的热启动/复位之后延迟计数不正确、则 PLL 有问题。 最终解决方案实际上取决于您的系统功能以及您利用手头资源满足测试要求的能力。

[引用用户="Michael DeClerck"]a). 对 SSWF0221#45变通办法进行了详细说明
需要更新关联的源代码？[/quot]

不在我看来。

[引用用户="Michael DeClerck"]b.) 不清楚如何通过 "进行多个测量并减去固定偏移或丢弃异常值"在单次模式下实施 DCC#24权变措施、如勘误表中所述。 这是否意味着我应该在发出"完成"信号时读取 DCC 计数并执行这些操作？ 我不确定我何时应该读取计数、否则。 在我可以调用 PLL 正常之前、应该执行多少次此操作？ 是否设置了"Error"位是否重要、因为根据您的建议、可能会有误通过？

我建议您将每个 SRC 计数器的计数处理方式与从 ADC 输入过滤输入的方式完全相同。 即、进行几次测量、计算每个计数器的平均值、然后对其进行比较。 我同意错误/通过标志在这方面没有什么意义。

[引用用户="Michael DeClerck"]c.) 如果我将 DCC 更改为使用连续模式、那么在调用 PLL 正常之前、我需要让连续运行多长时间？ 如果我在连续模式下确实遇到错误、那么在我知道 PLL 不好之前、可以接受多少个错误？ 连续模式是否消除了错误通过和错误故障？[/quot]

鉴于 DCC 正在进行基于周期的比较、我将考虑运行大量反0周期所需的时间。 测量的次数实际上取决于您在系统级别感到满意的次数。 考虑到器件的运行速度、可能会很快采集大量样本。

卡盘、

感谢您的回答。

当您说 不需要更新具有关联源代码的 SSWF0221#45变通办法的详细说明时，您是否意味着本文档正确实施 了 SSWF02#45的变通办法？

www.ti.com/.../spna233a.pdf

谢谢、

谢谢！