[参考译文] CCS/RM57L843：无法擦除闪存(错误242和1170)

您好、Merlin、

很抱歉您遇到了一些问题。 您是否已仔细检查配置文件以确保它已设置为 RM57？ 此外、您是否曾尝试使用 Uniflash 工具进行编程(因为它们应该使用类似的方法、所以作为另一个参考点)？

最后、您使用的是 TI 的开发板还是定制板？

代价电路板

我找不到配置文件的存储库或文档。 您能给我一个链接吗？

我们已订购 launchpad 板以检查配置文件。

感谢您的快速回复

您好、Merlin、

目标配置文件包含在 CCS 中、如果您选择了安全 MCU 或 Hercules MCU 的支持文件、则应随 CCS 一起安装。

本质上而言、当您设置项目时、您将选择器件和相关的目标配置。

有关设置 CCS 工程和目标配置的更详细步骤、您可以参考在较旧 CCS 版本中介绍此设置的一日培训。 尽管材料是由 CCS 版本日期确定的、但仍应适用于较新版本。 您可以在此 wiki 页面 上找到为期一天的培训材料：processors.wiki.ti.com/.../Category:TMS570

感谢您的回复！

我们按照所述检查并创建了一个新项目。  

更新：

我们可以修改寄存器。  

当尝试使用 fill 命令写入存储器时、我们得到以下奇怪的结果：

我们用0xAFE 填充了从0x080000开始的0x1000字节。

在以下2个屏幕截图中、您可以看到我们无法访问所有存储器字节。 在每次供电后、它们都会发生变化。

在下面、您可以看到可写块的长度始终为64位

您好、Merlin、

您能否提供有关您正在使用的"填充"命令的更多详细信息？ 我不熟悉调试器中有关'fill'命令的任何功能？

您还提到了每次电源更改后写入存储器的一些限制？ 您所指的是什么类型的功率变化？ 您是否意味着电路板/MCU 的电源循环？ 这是可以预料的、因为您右边的存储器范围是易失性存储器(SRAM)、不会在下电上电周期内保持。

您是否有尝试编程或进入调试模式的输出文件？ 即、如果您有一个已成功编译和编译的工程、则可以进入调试、并且输出文件将编程到器件中。 您将能够在调试模式下控制执行。

[引用 user="Chuck Davenport">您能否提供有关您正在使用的'fill'命令的更多详细信息？ 我不熟悉调试器中有关'fill'命令的任何功能？
[/报价]

在 CCS 中、我可以通过启动 Target Config 连接到 MCU。 之后、我可以使用存储器浏览器锁定存储器。 当我右键单击 MB 时、我可以选择一个内存填充命令。

[引用 user="Chuck Davenport">您还提到了每次电源更改后写入存储器的一些限制吗？ 您所指的是什么类型的功率变化？ 您是否意味着电路板/MCU 的电源循环？ 这是可以预料的、因为您右边的存储器范围是易失性存储器(SRAM)、并且不会在电源周期内进行维护。[/quot]

通过转动电路板的电源来循环供电。

未使用的部分是、可存取的存储器块在每个下电上电后都会发生变化。

[引用 user="Chuck Davenport">您是否有尝试编程或进入调试模式的输出文件？ 即、如果您有一个已成功编译和编译的工程、则可以进入调试、并且输出文件将编程到器件中。 您将能够在调试模式下控制执行。[/quot]

我们有一个基本程序。 但是、我们不需要将程序写入 MCU。 我们会收到上面的错误消息、CCS 将退出调试模式。 尝试空白检查或擦除闪存会导致 CCS7崩溃。

Uniflash 失败、出现相同的错误消息。  

是否有有关使用外部时钟的文档。 数据表提供的信息不超过切换3.3V 电压所需的信息。

您能否提供您所需的模式详细信息？ 即、您是否考虑将外部时钟与 DCC 配合使用？ 代替晶体？ 作为 RTI 的来源？ 我需要更多详细信息来回答。

我有一个连接到 OSCIN 的外部时钟、该时钟在16MHz 和40/60占空比下在0和3.3V 之间切换。

黄色：OSCIN 时钟

我们测量了调试探针和 MCU 之间的 JTAG 信号、发现 TDO 会在几次振幅上分解。

我们得到了以下测量值

黄色：TDO
蓝色：TCLK

我们在可疑的地方检查了 VCC：

      TDO 击穿 <-> TDO 正常

蓝色：TMS
黄色：VCC

我们搜索了原因、发现 TMS 是 TDO 故障的原因  

以下显示：

蓝色：TDO
黄色：TM
粉色：TCLK 或 RTCK

在扫描过程中、TDO 在特定时间为3态-乍一看、这似乎是正常的。

(这是为了允许来自电路板上多个器件的 TDO 被连接在一起-只有所选器件驱动输出)

您说得对、我们查看了 LaunchPad 参考板的信号并获得了类似的结果：

有什么想法、还有什么可能导致我们的问题？

Merlin、

关于连接到 OSCIN 的时钟源、您可以说该时钟源的输出具有60/40的占空比。 应考虑表6-12中标识的主振荡器时序要求的限值。 请注意、我认为这对当前问题没有任何影响、但应确保满足最小脉冲宽度和最大脉冲宽度。

总结我们目前的情况：

关于您的 JTAG 电路、我实际上没有看到任何问题、也没有想到会考虑到您能够与器件建立连接以及读取/浏览存储器和寄存器。

有趣的是、当您使用 fill 命令/选择时、您只能写入 RAM 的一部分。 您是否知道器件中是否已运行代码？ 即、这是空白器件、还是存在一些与 MPU 相关的驻留设置或软件、这些设置或软件会覆盖您写入其中的部分存储器内容？

错误消息表示它无法连接到 DAP、读取/写入寄存器和填充存储器的操作、甚至部分使用了 DAP、因此在尝试启动正常调试会话时、这似乎只是一个问题、对吧？

当您检查目标配置时、它应该与下图类似、但很显然、它是使用 RM57器件而不是 TMS570LC 器件。

您能否在目标配置文件中确认此配置？ 您还应该能够单击目标连接并查看测试的成功结果。

[引用 user="Chuck Davenport">有趣的是、当您使用 fill 命令/选择时、只能写入 RAM 的一部分。 您是否知道器件中是否已运行代码？ 即、这是空白器件、还是可能存在一些与 MPU 相关的驻留设置或软件、这些设置或软件会覆盖您写入其中的部分存储器内容？

是的、我可以通过启动目标配置->手动连接到 Icpick、DAP 和 CortexR5、然后手动连接到每个目标。

MCU 是空白器件。 我们还无法在上面获取代码。

[引用 USER="Chuck Davenport"]错误消息表示它无法连接到 DAP、读取/写入寄存器和填充存储器的操作、甚至部分使用了 DAP、因此在尝试启动正常调试会话时、这似乎只是一个问题、正确？[/QUERPLET]

是的！

目标配置文件与此类似、顶部有 xds100v2、RM57与您所说的相同。

[引用 user="Chuck Davenport">您能否在目标配置文件中确认此配置？ 您还应该能够单击目标连接并查看测试的成功结果。

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

 执行以下命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]

---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\mnagel\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\

   TI\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

 此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2017年23日"。
库构建时间为'19：37：36'。
库软件包版本为'6.0.628.3'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。  

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

 没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

 ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

 没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

 ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

 此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为6位。

JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为1位。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试成功。  

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0

所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试成功。

 [结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

您好、Merlin、

TMS、TDO、nTRST 上是否有上拉或下拉电阻器/电容器位于您自己的 PCB 板上？

王先生、您好！

我听从了另一个线程的建议、并进行了后续设置。

我使用上拉电阻器测试了电路板、但未使用相同的结果连接 RTCK。

我发现、使用 uniflash 擦除存储器时、我们能够使用 CCS7中的 fill 命令。

我在 Uniflash 治疗前后连接了寄存器导出

e2e.ti.com/.../6011.register_5F00_after_5F00_powering_5F00_board.txt

e2e.ti.com/.../0181.register_5F00_after_5F00_uniflash.txt

e2e.ti.com/.../2260.register_5F00_without_5F00_uniflash_5F00_after_5F00_error_5F00_242.txt

我应补充：
我们使用相同的结果测试了100kHz 和10kHz 连接
我们使用 launchpad 检查了我们的 xds100v2、没有任何问题

您好、Merlin、

您的调试器是否没有 RTCK 信号？ 如果不是、您可以将 TCK 连接到电路板上的 RTCK、然后重试吗？

我有3个板、2个板已连接、第三个板处于原始状态。  

这三种器例都具有完全相同的行为。

1.是否有方法将电路板运送到弗莱辛进行分析？

2.根据您的经验：如果我使用 xds100v2或 xds110、会有什么不同？

3. ADC 和连接的信号是否会导致此问题？

4、我测量的是 DCAN4RXD 上的低电平、而不是所有其他 DCAN 线路上的高电平。

这可以是简单的吗？

我将通过 PN 向您发送完整原理图、因为我无法公开发布。