[参考译文] TM4C1294KCPDT：这里有计时差异吗？

我不确定您的测量方法是否已得到充分描述、并且尽可能"误差"是(仅) 0.01KHz -这些"方法"是否变得更加重要？

您怀疑监控的是定时器触发的 GPIO -它命令您的(外部) ADC -并且 GPIO 提供您的"外部"采样率。    是这样吗？

您对 MCU ADC 采样频率的测量未进行说明。    我认为、您继续说的"定时器触发的 GPIO"(通常路由到外部 ADC)将用于确认"定时器对内部采样率的贡献"。    (即使您使用 MCU 的 ADC、此计时器生成的 GPIO 信号也会保持不变)   然后、您可以在  ADC 的 ISR 中放置一个额外的(单独的)"切换 GPIO"、并测量该值。

通过测量和比较这2个 GPIO 信号(计时器输出和 MCU 进入 ADC ISR)-任何变化-都应显示(良好)、并且正确识别源)

很好的总结，但需要更多的细节来开始跟踪。

[引用 user ="David Chance "]如果我将 Tiva 的内部 ADC 用于低端产品，我会让同一个计时器触发 ADC 序列发生器，并在调用 ADC ISR 时获取数据，现在抖动消失了，但采样频率似乎降低了一小部分，如19.99Khz

详细信息？ 我当然可以看到简单的影响、这可能会给您带来这种错误。 计时或计时测量。

[引用 USER="David Chance "]差异高于主时钟的容差(50ppm)。

例如、您是否验证过这一点？ 根据您如何推导时钟、它可能会被从其正常中心拔出。 此外、由于您使用的是 PLL、因此您需要检查其规格。

Robert

[报价用户="David Chance "]在我的代码中没有发现任何明显的错误，

突出显示关键字。

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Robert