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[参考译文] RM57L843:闪存 ECC 数据校正诊断模式7

Guru**** 2466550 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/665836/rm57l843-flash-ecc-data-correction-diagnostic-mode-7

器件型号:RM57L843
主题中讨论的其他器件:TMS570LC4357

大家好、我对 7.8.2.2 ECC 数据校正诊断模式7有几个问题:DIAGMODE = 7

此检查能够在完整 的7.4.4综合征表上运行、是否有推荐的程序? 根据一个值运行此测试是否足够? 如果闪存的内容在引导加载程序执行之前进行 CRCed 以确保有效性、那么运行此 ECC 测试与通过第7.6节生成 ECC 错误 相比、运行此 ECC 测试的主要优势是什么?用于 FMC ECC 检查的 ECC 错误是故意的。

谢谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Dmitri、

    DIAG 模式7的主要用途是因为 Cortex-R4/5 CPU 可以推测地在正常运行过程中获取数据或指令。 如果推测取指令访问测试位置的故意错误数据、则会发生异常。 如果您在异常处理程序中正确处理它、这可能是问题、也可能不是问题。 即、如果您诊断故障位置并确定故障位置是故意故障位置、则可以清除故障位置并恢复正常运行。 如果您使用 DIAG 模式7生成错误/测试、则不存在无意中生成异常的风险。

    有关如何实施诊断模式7测试的参考、您可以使用 SafeTI 诊断库作为参考、甚至直接使用该代码。
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    谢谢 Chuck、

    遵循第 7.4.1节 SECDED 初始化

    "因此、必须注意为整个闪存空间生成正确的 ECC、包括段与任何未使用或空白闪存区域之间的空洞。"

    如果整个闪存空间已经正确生成了 ECC 并且通过 CRC 检查了映像完整性、那么听起来好像没有必要使用 DIAG 模式7?

    当前发布的 SafeTI 诊断库中未对 RM57/TMS570LC4357实施此测试、它仅包含未实现的函数存根"checkFlashECC"。