[参考译文] RM46L430：传递 sl_SelfTest_Flash 报告所需的极端步骤

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/608591/rm46l430-extreme-steps-required-to-get-sl_selftest_flash-to-report-passed

大家好、

这是我‘S“L_SelfTest_Flash”来报告通过的操作

在 IRQ/FIQ 周围插入一个包装程序异常处理程序并截取 ESM 高优先级和低优先级中断处理程序、并且在包装程序中：

           如果 TEST = FLASH_ADDRESS_parity、FAULT_INP注入

                      设置 ESM SR2=0x00000010

                      设置 VIM IRQ INTREQ0=0x00000001

                       恢复以前的闪存 FPAROVR

在‘S调用‘L_SelfTest_Flash’之前：

           保存闪存 FPAROVR

           保存闪存 FDIAGCTRL

‘S调用‘L_SelfTest_Flash’后：

           设置闪存 FEDACSTATUS = 0xFFFFFFFF

           恢复闪存 FDIAGCTRL

           读取以解锁闪存 FUNCHERRADD

           清除 ESM SR2 0x00000010

           清除 ESM SR3 0x00000080

           清除和错误引脚并将密钥复位为正常

并非每个测试都需要执行所有步骤、但所有步骤都需要完成才能通过所有测试。

这一切都是通过代码检查和调试完成的、所有这些的规范在哪里？

为什么我需要额外放置一层中断处理、以便在启用中断时通过测试？

此致、

标记。