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器件型号：TMS570LC4357 您好！
我的闪存 ECC 测试有问题。 如果我调用函数"RetVal = sl_SelfTest_Flash (flash_ecc_test_mode_1bit、true、&failInfoFlash)"、则返回值为"true"、但 failInfoFlash 设置为"ST_FAIL"。
如果我使用 调试器进入函数"sl_SelfTest_Flash"、一切正常、->failInfoFlash 设置为"ST_pass"。
如果我调用函数两次、则第一次测试 失败、第二次测试通过。
我使用自己的软件以及 TI 的示例进行了测试。
有什么想法？
此致
Lars
