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[参考译文] CCS/RM57L843:测试 SRAM 与放大器;闪存 ECC 功能

Guru**** 2465890 points
Other Parts Discussed in Thread: RM57L843

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/662648/ccs-rm57l843-test-sram-flash-ecc-function

器件型号:RM57L843

工具/软件:Code Composer Studio

您好!

我使用 RM57L843 CPU 开发了特定的嵌入式系统。

我 想就 测试 SRAM 和 Flash 存储器的 ECC 功能提出建议。

我 已经知道自检库、它可以支持使用诊断模式的 ECC 测试功能。

但是、我想使用真实的操作环境测试此功能。

例如、我想在系统中强制插入错误。 然后、当     发生 ECC 错误时、我希望跳转到 ESM 中断处理程序。

为了生成 ECC 错误、我 使用带有 Fapi_DataOnly 标志的 Fapi_issueProgrammingCommand()将虚拟数据(0x12345678)写入闪存中的特定区域(0x00200000、bank1、扇区2)。

接下来、我读取测试代码中的特定区域。 但未发生 ECC 错误。

请 就我的问题向我提供任何建议。

谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!

    实际上、我们不建议使用这种方法来生成真正的 ECC 错误。 我们建议的唯一方法是使用 TRM 中定义的诊断模式。

    但是、我将执行一个测试来写入虚拟数据、而不对 ECC 进行编程。
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    您好!

    我只将数据编程到未使用的扇区(0x300000)、并读回数据。 它会生成 ECC 错误:

    在运行代码之前、清除 ESM 寄存器

    2.读取数据后检查 ESM 寄存器

    stat2被置位