This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] CCS/TM4C1294NCPDT:无法对某些定制板进行编程

Guru**** 2465700 points
Other Parts Discussed in Thread: TM4C1294NCPDT, UNIFLASH, SEGGER

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/649834/ccs-tm4c1294ncpdt-unable-to-program-some-custom-boards

器件型号:TM4C1294NCPDT
主题中讨论的其他器件: UNIFLASHSEGGERTM4C123

工具/软件:Code Composer Studio

我有50块板、 TM4C1294NCPDT 已启动、运行频率为24MHz。 在10个电路板上、JTAG 将无法工作、设置相同、如果我将 JTAG 插入"正常"电路板、设置相同、硬件相同、会话相同、则编程正常。 我们没有在任何电路板上放置 RBIAS 电阻器、同样有40个将通过 JTAG 进行连接和编程。

我即将制造一个生产数量、必须解决这个问题。  

RBIAS 和 JTAG 发布:

e2e.ti.com/.../587050

我使用的是 Launchpad 评估板或 XDS100v2、两者都可以正常工作、并且多次在正常电路板上工作。 我已经尝试过 Uniflash 和 LMFlash、两者都起作用。 我使用了2块电路板、放入 RBIAS、但仍然得到相同的误差。 我尝试并完成解锁;仍然死机。

如果尝试使用 RBIAS 对 UP 进行编程、是否进行了油炸?

Uniflash 的输出:

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    TM4C1294NCPDT:JTAG 错误、连接到目标时出错
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    如果电路板上没有 RBIAS 电阻器、则会遇到与 JTAG 连接的问题。 您能够连接的电路板将来可能会出现连接问题。 您无法连接的主板未损坏。 添加一个 RBIAS 电阻器、您应该能够连接这些电路板上的闪存并对其进行编程。 我强烈建议在您的所有电路板上添加 RBIAS 电阻器。 如果不使用以太网、则可以使用4.7KOhm 10%容差电阻器代替4.87K Ohm 1%容差电阻器。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、
    感谢您的回复。
    但是、从上面可以看出:"我使用了2块电路板、放入了 RBIAS、但仍然得到相同的误差。 我尝试并完成解锁;仍然死了。"
    我使用的是 HCMOS 15pF 24MHz 振荡器。
    如果 osc 是问题、那么 JTAG 问题会在什么 f 下消失、这不是我的设计允许的、而是验证问题。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    而您的(添加偏见 R 是"派对线")-海报指出、他在2块 DOA 板上"尝试过"、却没有任何结果!
    他写道:“我拿了2块电路板,放在 RBIAS 中,但我仍然得到相同的错误。”

    遗憾的是、"有价值的供应商资源"被反复地称为" JTAG 失败"、而 JTAG 早已为人所知、但仍有时间/精力"像!"   “滥用有价值的资源”可能会进入该领域吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Jesse、
    抱歉。 我显然没有仔细阅读你的帖子。

    我想知道、24MHz 的使用是否接近25MHz、从而导致引导加载程序尝试初始化以太网、但又足够远、从而导致问题。 如果可能、您能否在添加了 RBIAS 电阻器的其中一个板上将24MHz 振荡器替换为25MHz? 就像一个测试、看看这是否与 ROM 引导加载程序相关。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    再想一想、您可能会尝试移除25MHz 振荡器并尝试 JTAG。 该器件将脱离16MHz PIOSC 运行。 如果正常工作、它将验证 JTAG 连接是否正常工作。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 USER="Jesse MEISTERLING]我有50块板、 TM4C1294NCPDT 已启动、运行速度为24MHz。   在10个电路板上、如果使用相同的设置、如果我将 JTAG 插入"良好"的电路板、相同的设置、相同的硬件、相同的会话、它会正常进行编程。

    因此,有人建议--但不能肯定--这40个委员会"不失败"确实起作用!

    如果是这种情况、"交换关键频率确定组件"是否会证明没有用处、从"好板"改为"故障 板"以尝试"找出"故障的来源?    (即外部组件与 MCU)    在此类组件交换之前、也必须检查 MCU 的复位电路。

    作为一种"痛苦和最后的手段"-您可以"用新的电路板 MCU 替换故障电路板的 MCU"(未交换)-将其他所有东西留在故障电路板上- "完全相同"。    

    这两种方法早已证明其在"速度、易用性和增强"故障识别和识别方面的价值...   

    最好始终查看"生产日期代码"(了解故障 或成功"群集")、以及"查看并确保所有 ESD 处理安全措施"运行、已知并强烈强制执行..."。

    如果您已(记录)"在编程周期中、每个故障发生在哪里?"、也会有所帮助。    (操作员更改或意外设置更改可能会证明问题原因...)    50个此类板-等待编程-"占用空间"、可能使"某些板"遭受"移动和处理不当!"

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    在50个钢轮中、2个制造周期为25-6个月、每个制造周期订购新的制造工艺、新的零件。
    前25个中的3个出现 JTAG 故障、后25个中的7个出现故障。

    我的第一次尝试是切换2个上拉电阻;然后、在相同的2个上拉电阻上、我放入 RBIAS 下拉电阻器... NG。
    剩下的40块啤酒做得很好! 在工作的模块上、每个模块至少已重新编程2-4次... 还可以

    就像我说的那样:如果我将 JTAG 连接器从"坏的"板移到"好的"板上、设置相同、硬件相同、会话相同、它的程序也很好。
    LMFlash 因使用"0"代码而崩溃、Uniflash 会发出上述通知。

    就静态而言、我的装配室已通过认证、我在静态的板和桌子上展开包装、存储和处理、至少50%RH、构建类似的板(不是 TI UP)已有16年。 我会接受一两个(没有一个)、但10????

    我将 OSC 替换为24MHz 晶体、并将 RBIAS R 置于另外2个故障的频闪上。 供参考、早期的原型钢丝有一个晶体、因此我将这些焊垫留在原型钢丝上。 我们将看到。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感受您的痛苦-请注意、建议的方法具有"促成解决方案"@多个客户。 (否则-重点是什么。)
    同意10/50(20%!) 是恐怖。

    您是否可以在 Biz 中有一个朋友访问"Segger 的 J-Link"?    这证明了极其出色的 JTAG/SWD 探针(建立得更好-更强大/更强大-并且在与您的情况类似的情况下多次"恢复了与电路板的连接!)

    我们始终建议使用外部上拉 Rs -采用 MCU 的内部(高电阻) Rs 会带来此类问题-从不明智...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    器件成功编程后、始终可以对其进行重新编程、这一事实仍然与 ROM 引导加载程序而不是 JTAG 电路本身的问题一致。 一旦在地址0x00000004编程了某个内容、ROM 引导加载程序就不会被执行。 如果 JTAG 信号完整性出现问题、则电路板间的一致性会降低。

    [引用用户="Jesse MEISTERLING">就像我说过的:如果我将 JTAG 连接器从"坏的"板移到"好的"板、设置相同、硬件相同、会话相同、IT 程序正常。 LMFlash 因使用"0"代码而崩溃、 Uniflash 会发出上述通知。 [/报价]

    "JTAG conn"是指 XDS100V2?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    是的、XDS100V2或 LaunchPad 编程器不会产生差异。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、

    如果我错了、请纠正我的问题-但不是"您的"提到"ROM 引导加载程序"的"第一个/唯一的"问题?
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    CB1、
    是的、我认为是这样。 您为什么要问?
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    "ROM 引导加载程序"-即使不是专门"订购服务"、也能"中断正常的 JTAG/SWD 连接/连接吗?"

    如果是这样-是否应该没有积极的手段来防止这种不良/不想要的行为?

    我没有看到"ROM 引导加载程序"-而是海报尝试(仅限)通过 JTAG 进行连接!    因此、新添加到场景中的"ROM 引导加载程序"值得提问和关注 、不是吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    CB1、
    如果器件为空、我假设10个"故障"单元为空、则将执行 ROM 引导加载程序。 我们从勘误表 ETH#03中知道、如果您使用的是25MHz 晶体而没有 RBIAS、则可能导致 JTAG 无法工作。 在此应用中、它们使用24MHz 振荡器、因此我们乍一看就会假设勘误表 ETH#03不适用。 勘误表 ETH#03的根本原因是 ROM 引导加载程序轮询 UART、SSI、I2C、USB 和 EMAC 以获取可能的引导加载。 它在检查 EMAC 之前检查25MHz、但它的参考是 PIOSC。 容差为+/- 4.5%的 PIOSC 可能无法准确区分24MHz 不是25MHz。 下一步是推测我的器件、如果 ROM 引导加载程序错误地将24MHz 检测为25MHz、它是否可以锁定 JTAG?

    这就是为什么我建议使用实验来移除24MHz 振荡器的原因。 ROM 引导加载程序(从 PIOSC 运行)不会尝试初始化 EMAC、这可能允许 JTAG 工作。 一旦一些代码被编程到空白器件中、ROM 引导加载程序将不会被执行、并且即使24MHz 振荡器被恢复、此部件也应该能够被重新编程。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    这是一个合理的解释-但请记住-在"相同的情形"下、40个电路板/MCU 进行了编程!

    我的公司已编程到超过15K 的"LM3S、LX4F 和4C123"-永远不会/不会希望也不会使用引导加载程序。     现在-并非所有这些"全新" MCU 都是空白的吗?    然而-我们"永远不会一次"经历了这张海报上的"恐怖"-因此" ROM 引导加载程序的入侵"似乎是有问题的-它不是吗?

    此外、ROM 引导加载程序在"开始使用"之前不需要"特定(特殊)信令(即关键 GPIO 操作)。    "锁定 JTAG/SWD "减去此类预防措施-似乎很可疑-这可能不会直接导致"图表外 JTAG 锁定事件"-在这里见证了吗?

    如果存在" TM4C129中的特殊操作"(公司/我不知道(也不感兴趣)、则所有"投注已结束"。

    我怀疑 ROM 引导加载程序是一个原因代理-根据这些事实-此处显示...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    CB1、
    优点。 我认为10/50失败可能是因为 PIOSC 的不精确。 如果内部振荡器位于低侧、则可能认为24MHz 为25MHz。 如果它在高侧、它可能会正确地假设它不是25MHz 并跳过 EMAC 初始化。 25MHz 的测试必须至少有4.5%的误差裕度、以应对 PIOSC。

    勘误表 ETH#03是具有集成 PHY 的 TM4C129器件所独有的。 您在 TM4C123器件上根本看不到这种情况。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Bob、

    谢谢您-请注意、我在这里的动机是"纯粹的"-如果某种方式/如何大幅减少"JTAG 锁定的发生率"、那将是"极好的"!    每次发生此类事件时(尤其是现在/现在)、供应商专家都会在场-"出现了解决问题的机会(或至少增强了理解/联系!")

    请允许我让您返回到我的上述帖子(下午4:38)-并检查(新添加的)第3段-在该段中、我"严重怀疑"ROM 引导加载程序是导致此海报问题的代理...   这种"屏蔽或支配 JTAG/SWD "的能力-没有明确授予该特权-似乎不属于"正常意图!"

    再次感谢您的时间、努力和关注...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    CB1、
    我完全不质疑您的动机。 您提出的问题非常出色。 我不认为锁定 JTAG 的目的是什么。 这是 ETH#03问题的一个不幸的副作用。 我不知道为什么 JTAG 被锁定的详细信息。 (发现问题时、我正在其他设备上工作。) 如果这个问题与此相关、我肯定会更深入地探究。 Amit 可能能够对此问题提供更多信息。

    Jesse、
    请记住、这只是我的理论。 请告诉我、您是否可以执行移除振荡器的实验。 如果无法解决 JTAG 连接问题、我们可以放弃这一理论、继续下一个理论。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Bob、谢谢您、并且知道我只是想"用力"处理这个"长期恶化的问题" (赦免-但这是事实) "深入探讨"-并由此产生的利用和纠正。

    如果是我、我会购买5个全新的 MCU并且仔细/巧妙地"回流/移除" 2-3个"故障 MCU "-和"仅更换 MCU!"    然后仔细地"尝试编程!"    

    有时、这种"蛮力法"获得即时和强大见解的最佳/唯一方法!    (我们寻求发现问题所在的位置-但还不是其原因!)

    我们(仍然)不确定问题"位置"、"边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘边缘"不会解决任何问题-很快就会解决!     蛮力... 会!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    但是、CB1_MOBIT...
    我有两个 R&R,nada
    这两个都有 RBIAS 模块,nada!
    装配室、R&R 和 RBIAS 所做的所有工作看起来都很好。
    小心吗? 我有40个在同一工作台上、相同的硬件、相同的时间、相同的我。
    我已经拔出了横梁上的零件的线条,将会有零件被取下,然后再次响铃。
    ???
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我不知道我们正在进行通信。    您的问题可能存在:

    • 具有内置于 MCU 中的功能
    • 具有板载频率确定和/或复位电路
    • 如果特别不幸运的话——同时兼顾这两个因素

    (仅限于)该板 MCU 的"拉动和更换"(从发生故障的电路板中取出)、如果后续测试证明成功、则会很难找到"MCU 是您的问题"。    我们是否可以同意这一点?    从多年的技术经验和"赌博者的运气"中、我敢打赌(很多)这种结果是"最可能的"。    

    它根本不涉及" MCU 何时/何地/如何被禁用"、但这并不是我们目前最关心的领域。

    因为您"似乎抗拒"我的建议-您还可以考虑"将频率和重置确定组件从"坏板"转换为"好板"。   当然、我们的目标是通过仔细替换(MCU 或支持组件)来实现"受控的成功或失败"。

    您当前的"方法"使您"死在水中"-它不是吗?    Bob 和 I -都是水手-知道(有些)需要风... 这里也是如此-因此您可能会逃离您的"被骗"状态...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、CB1、
    明天、我的装配 HSE 将把晶振放在2个故障的焊条上、更换 OSC 并从另一个拆下 OSC、并将 MCU 从另一个拆下。
    我们将查看它们。 我将具有组件 HSE X 射线 MCU 板。
    我将获得一个 J-Link 编程器。
    我们将在所有设计中尝试 J-link、尤其是具有已进行 R&R 的 MCU 和已安装 RBIAS 的2个设计。
    感谢您对我的问题的意见!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    谢谢您-感谢您的详细介绍。

    如果是"J-Link"、请确保您的是有效的 Segger 单元-而不是离岸(非法)副本。

    此外- Segger 提供详细的软件-他们长期以来一直在"JTAG/SWD BIS"中-他们的方法(与供应商无关)比供应商的努力"更加详细、测试和扩展"-这里。

    在您使用 J-Link 期间、我会"逃脱"供应商限制的方法-并在 Segger 的软件下使用 J-Link -它已证明能够"拯救"客户-用户、使其免受与您描述的条件(近乎)相同的情况... (注意:公司或我本人都不会因认可而获得奖励...)
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    一个简短的问题:

    对数据表中5.2.2.2的回顾表明、如果在 POR 之后初始化失败、TDO 将切换。

    JTAG 上是否有此数据流的图片?
    或者我是不是在错误的树中?

    J-Link 会看到这种情况吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    FiRM /我"还没有遇到"一个"TDO 切换"。 也就是说、我们采用了来自多家供应商的 ARM MCU (M0、M3、M4、M7)、但对您的器件没有任何经验。 (或129个家庭中的任何人... 我们认为这是一款"一个魔法" MCU (E-net)、它早已被其他 Cortex M4通过-超过200MHz 时钟-同时提供现代且广泛的 TFT 显示驱动器)

    从我的时间/阅读这里- TDO 切换应该很容易通过示波器检测-我不知道 J-Link 和 Segger 软件是否"检查和/或测试了它。" (Segger 论坛或深入研究 J-Link 手册(超过100页-远远超出此处提供的任何/所有有限器件)可能提供见解...)
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    嗯、我回到了我的小 R&R 实验的结果。

    首先、从 MCU 中移除 OSC 并尝试仅使用 JTAG 进行编程不起作用。

    来自我的工程师:
    无法通过 JTAG 进行编程-通过 Code Composer 进行编程时收到错误消息“Error connecting to Target”。

    但是、移除24MHz、2ppm OSC:
    support.epson.biz/.../doc_check.php

    并输入原始原型24MHz±10ppm 晶振:
    support.epson.biz/.../doc_check.php

    在两个 PCB 中都工作过。

    BTW、晶体电路有2 - 12pf 电容器连接到 OSC0和 OSC1输入。
    一切似乎都符合规格(我可以看出)。

    是否有相关说明?
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    对您来说很好-很高兴您坚持下去-您可能会注意到以下情况: (直接引用我的帖子、星期四、2017年12月14日下午2:31

    [引用 USER="CB1_MOBIST"]如果是这种情况,是否会证明"交换关键频率确定组件"-从"良好板"改为"故障 板"-尝试"找出"故障源?[/quot]

    在最近的一篇文章中、我在诊断帮助中包含了3个要点-再次将注意力转向"频率确定组件"。     

    根据之前的2个(和正确的)诊断产品、"一个或两个"收到您的"此帖子已解决了我的问题"是否不公平且恰当?

    仍需关注- 40个相同的振荡器是否"按需要执行?"    这2个故障单元是否可能被错误标记-和/或未(有效)振荡?

    我仍然强烈建议您购买"更合适"的编程/调试探针-保存在"重要工具"上很少(如果有)有意义...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    我要做的一件事是探测实际频率。 如果这样做、我还建议在连接示波器探头时尝试编程、如果在晶体上进行探头、探头可能会影响频率。

    另请注意、不同的晶振可能需要不同的负载电容。

    Robert
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、新年快乐!

    简要概述:

    使用 TM4C1294NCPDT 和2ppm 24MHz 振荡器构建50块电路板。 在 PCB 上提供10ppm 24MHz 晶体。 OSC 和晶振都在 TI 文档规格范围内。

    最初的2个构建没有 RBias 下拉电阻(每个25个)。

    40正常、10没有到 MCU 的 JTAG 端口通信。 我们同时使用 Launchpad 和 Blackhawk USB100v2 JTAG 仿真器。

    将 RBias 下拉至2个 OSC 频带、无差分。

    拉动 OSC (无外部时钟)并尝试通过 JTAG 进行编程、相同的故障。

    我对晶体进行了 R&R 操作。 5项中的3项工作;JTAG 编程正常。  3个良好的护罩中的一个没有 RBias 下拉电阻器。 2个晶振故障没有 RBias 下拉。

    如下所示:

    带有晶振的 R&R OSC 有一些作用;5个中的3个具有有效的 JTAG。

    RBias 不会产生差异:40 OSC 和1个具有 RBias 的晶振下拉工作正常。

    我与 OSC 人员进行通信。

    我总共用晶体构建了15个原型板:全部都可以使用。

    使用 OSC 制造50个生产钢;全部40个工作。

    不确定这里发生了什么。 你有什么建议吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我不知道发生了什么、很好奇。 我假设原型板和生产板至少稍有不同。 您能否使用 USB100v2执行 JTAG 扫描测试? 在 Code Composer 中打开.ccxml 文件、查看是否有有效的"Test Connection"按钮。

    运行连接测试应给出如下结果(滚动至末尾):

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、
    感谢您的回复!
    我现在遇到暴风雪了、但我会做您的测试。
    BTW、原电池和原电池之间的唯一差异是 TI I2C 充电器和 FG 芯片。 和双 OSC -晶体垫。
    MCU 部分和其他外设完全相同、最初将是一个电池器件。
    与 OSC 人员交谈时、他们向我保证这些部件经过100%测试、无法想象20%的故障率。
    谢谢!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Bob:

    阅读这篇完整的文章、并同意您的想法、PIO 4.5%的误差实际上更大、勘误表 ELEC 3建议+/-6%的误差、RA1但不建议使用 RA2器件。 外部24MHz 振荡器似乎可能会尝试在 RA1器件 MCU 的 ROM 引导加载程序内驱动 EMAC0运行。

    EMAC0似乎不知道 PIOSC 时钟源。 然而、24MHz 振荡器也可能尝试将主时钟树中的 EMAC0恰好低于25MHz 作为 EMACO 外设时钟、该外设默认为 MOSC 时钟源。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    BP101、

    谢谢。

    我们仍然感到困惑。  

    我的器件具有后缀:TI3、因此根据勘误文档 A.3中的器件标识、 "器件版本号是器件型号中的最后一个编号..."

    根据表1:芯片修订版 A2为 Si 修订版3。 我们无法读取故障器件中的 DID0、它们无法读取、它还指出所有 Si 版本中都存在 RBIAS 问题:

    所需的 ETH#03 RBIAS 电阻与片上以太网 PHY 的使用无关

    RBIAS 下拉电阻器不应该解决该问题? 它过去没有、现在似乎没有影响。  

    Bob:我今天将参加您的 CC 测试。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 user="Jmeist"]根据表1:芯片修订版 A2是 Si 修订版3。

    右侧 A2是器件版本 TI3、只是检查 A1器件 MCU 是否可用。

    [引用 user="Jmeist"] RBIAS 下拉列表不能解决此问题? 它过去没有、现在似乎没有影响。  [/报价]

    似乎即使安装了 RBIAS、您 仍然必须移除 24MHz 外部振荡器 、才能使 PIOSC 与 ROM 引导加载程序 USB0配合工作。    由于24MHz 不是 EMAC0 正常工作所需的25MHz XTAL、 PHY 可能会被启用、但 频率错误会使问题复杂化。

    我想、如果 ROM 引导加载程序 没有主机 NACK、 USB0 可能最终超时 并停止 CPU。 或 XDS100只需通过 JTAG DAP 从 ROM 引导加载程序中获取 AHB 总线优先级、即可直接访问闪存。 无论采用哪种方式、如果  发生死锁、外部24MHz 振荡器都必须从 MCU 断开、以便 JTAG 优先于 AHB。 认为您已经发现了这一点

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    有趣的信息。
    我这里有16个砖头(PCB HSE 上还有4个用于维修)、其中一些用于 JTAG、另一些用于其他问题。
    8个带生产日期代码67 (67A184W)的钢丝、全部与 OSC 配合使用、无 RBIAS 下拉。
    失败的3个码(即使在 Crys 更改过期后仍为2个)具有日期代码:66C506W
    1良好的板具有此生产日期代码(OSC)、另外2个生产日期代码在晶振之后工作。
    一个坏板有51个日期代码(不确定它来自哪里)
    另一(1)个返修(OSC)有64个生产日期代码。
    我的 PCB HSE 现已推出、因此我无法获取其他4个生产日期代码、可能正在挖掘...
    我们将尝试使用几块新的生产日期代码。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 user="Jmeist"]失败的3个字段(即使 Crys 更改后仍为2个字段)具有日期代码:66C506W

    您必须通过 USB0或 JTAG 上传不带 XTAL 的固件、一旦闪存被写入、就安装 XTAL。

    [引用 user="Jmeist"]8个带生产日期代码67 (67A184W)的焊条均适用于 OSC、无 RBIAS 下拉电阻[/引用]

    您从哪个供应商获得了8个 MCU? 您 知道 有些 地方 会回收半导体。 如果8个 MCU 之前已刷写 、则8将不会出现 RBIAS 勘误问题。

    另一个主题是 主板室使用的回流配置文件、如果它在任何时间内保持260*C、则会影响 MCU。 260*C 是最大峰 值温度,而不仅仅是外壳表面 ,内部也是如此。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    BP101、

    我们没有尝试 clk、不会编程。 返回12/20。

    我知道样本1 (或8)不会进行填充。 我们将重试。

    我将获取供应商信息、我的 PCB HSE 通常使用 DigiKey 或 Mouser。

    感谢您的参与!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    在没有 OSC 或 Crys 的 MCU 上运行 JTAG 完整性测试。 奇怪。

    测试是否成功?

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用512个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG IR 完整性扫描测试成功。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用512个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG DR 完整性扫描测试成功。

    [结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

    我可以重置 MCU、这是成功的。

    在复位后、100v2或 LP 将成功编程(其表述为这样)、甚至返回正确的校验和、但 MCU 不会复位。

    然后、在触摸某件事后、运行验证、任一程序员都返回失败状态。

    以下控制台作物显示正确的响应、然后显示故障:

    顺便说一下、我在开始使用晶体的同一 MCU 上还有几个 I2C 端口。

    我不认为这是一个满月...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感受一下您的痛苦-现在只需40个帖子、一个月(+)的时间/精力就会损失 -您可能会证明它对您有利:

    • 总结您的所有主要行动、发现、条件... 期望"助手 crüe ""拥有/保留一切"(可能)是不合理的-下降
    • 也许"拔下这个线程上的插头"、然后重新开始(新线程)、这样(强烈建议)" 主要:行动、发现、条件就会跳出来 (从1号线程开始)、而不会被" 不太成功"的帖子所掩盖?   (其中这只是一个。)   您肯定会"链接"到这个40多个帖子主题...

    "供应商工具"提供这种"抛物线冲突的调查结果"这一事实引起了"严重"的关切,难道不是吗?   

    很久以前-有人建议使用一个更成熟的"PRO (Real) Tool"。    我不擅长"冲过沼泽"-看看是否曾尝试过(公平且正确)...

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 USER="Jmeist"]即使返回正确的校验和、但 MCU 不会复位

    直到您单击 CCS 调试工具栏中的 CPU 图标或下箭头"Reset CPU"、 如果 目标 跳转到 "恢复"、您必须单击 C_Int100行、则工具栏将可用于选择按钮。 如果在程序 加载或连接时未检查调试 JTAG 配置以复位 CPU、则红色消息是典型消息。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您必须"注意"、此海报已成功安装了许多板!    因此,"程序中的失败"(突然)是不可能发生的,是不是吗?

    再次-可疑工具确实会产生 "可疑结果!"

    添加到此"沼泽"(现在有43个柱深)不是继续...  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    好的、由于(对我而言)故障率为20%的人似乎与 MCU 相关、除了让我花更多时间处理一个问题外、新的一串帖子会做什么?您说、几乎2个月后、我的问题仍未解决?
    有人在这里有一些经验。
    BTW、复位已检查、代码是否应该验证代码是否在那里?

    而且、我无法"借用" J-Link 编程器、系统的美元非常可观、而且不相信它会产生结果、我确实有80%的成功率、但是我和 Foxconn 必须以这个速率关闭。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 user="Jmeist"]好的,由于(对我来说)故障率为20%的人员似乎与 MCU 相关,因此新的一串帖子会做什么[/引用]

    我认为,要求提出的所有问题都是对所作尝试的总结和结果的总结。

    在这一点上、我怀疑任何人(包括您、如果您没有做过这样的总结)都不知道已经做了什么以及效果如何。 写出来并对您实际知道的测试条件以及您在事实发生后仅假设或记住的情况*粗鲁地诚实地讲,通常会导致以前不明显的见解。

    [引用 user="Jmeist"]并且,我无法“借用”J-Link 程序员,系统的美元非常可观,而且不相信它会产生结果,我确实有80%的成功率,但是我和 Foxconn 必须以该速率关闭。

    您在这方面花费了多少小时? 如果超过一天、您就会消耗编程适配器的成本。 甚至不考虑延迟的成本。

    Robert

    *本实验手册的规定、如果您在进行测试时未记下条件、则表示您不知道它是什么。 完整的停留**

    **每个人都认为他们的回忆是完美的。 不是、不是。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 user="Jmeist"]新的帖子字符串会做什么

    (两者都有)曾预料并回答过-我不是吗?

    能指望这里的所有人员"完全回顾"本文件所有内容(现在的~45个帖子)。   您确实这样做了、但这家供应商和我们的外部人员(试图提供帮助)显然不会这样做!

    您是否 不是代表您要求"全在这里"进行更多的"时间和精力投资"、以节省(轻微)磨损?   这是如何公平或有效的?

    我建议的摘要最好地保证、"每个/每个线程读取器" (尤其是新的读取器-可能-具有新的指导)能够 "快速且更容易地吸收"您的问题。

    期待所有新来港人士阅读~45 (即将推出50篇)帖子-显示您对    帮助者的"不重视"、"舒适和便利"-这是真的-不是吗?   这怎么可能会" 为您服务?"

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    好的、JTAG 扫描链测试的成功完成让我相信它不是定制板上扫描链的边缘。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    如果我们已经讨论过这一点、请原谅我、但您在 RST 引脚(引脚70)上是否有上拉电阻器?
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob -由于这条线索与50个帖子碰撞-我建议张贴他"重新开始"但"预先列出所有相关的发现"-这样可以消除(或大大减少)"必要的问题"(例如您刚才提出的问题) 这个线程的极限深度/大部分都带来了它!

    这段很长的时间-许多发现-甚至是变化-迫使所有人付出额外和不必要的努力、"寻求帮助"-显然这不是海报的优势...
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、
    是的、我尝试了 RBIAS 下拉、但没有效果。
    正如 CB1所建议的,我会检讨所有职位,并检讨我们的位置。
    谢谢!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用 user="Bob Crosby"]好的、JTAG 扫描链测试的成功完成让我相信它不是自定义电路板上扫描链的边缘。

    Bob -最近(今天甚至几次)有报告说、 "成功完成 JTAG 扫描测试"-然后(几乎立即)说了可怕的 "连接失败!"

    这两个条件都可以证明是真的吗?   这种(所谓的) "成功完成" 是否证明 "过于乐观-或完全错误?"    

    这种 情况(现在称为工具报告冲突)是否 不是" 值得(部分)关注的问题?"