[参考译文] CCS/EK-TM4C129EXL：连接到目标时出错

您好、Sara、
您如何知道解锁成功？ 您是否说解锁后固件仍在闪存中？ 如果是这种情况、则解锁失败。 请重试。 如果解锁成功、则应完全擦除闪存。 在 LM 闪存编程器的 Other Utilities (其它实用程序)下、您可以单击 Get Current MAC Address (获取当前 MAC 地址)。 它返回了什么？ 如果解锁成功、它还会擦除您的 LaunchPad MAC 地址。 它应该显示 FF-FF-FF-FF-FF-FF-FF。

请尝试以下步骤。

1.为电路板断电、然后按重置

2.为电路板通电、但不要释放复位

3.根据 LM 程序员的"对话框"运行解锁序列

4.对电路板进行下电上电

5.执行闪存擦除检查或加载一个简单的程序以确认调试器可以再次访问 MCU

[引述 USER="Sara Fernandez ]]在某个时候、我连接了 USB 来测试通信、并希望进行调试。 自此之后 、CCS 显示："error connecting to the target "

那么、很多人最终 会在这里"只是"您的情况。    (但供应商"会像这样寻找消磨时间的方法-并避免此已知/持续存在的问题！)

您不会描述"如何连接 USB 进行测试"-您的电路板上有多个 USB 端口-您使用的是哪一个？"

感受您的痛苦(但我们避免使用您的 MCU)、希望供应商在(非常)构思不当的"论坛降级"上"处理/处理真实问题"、而不是"浪费时间/精力"！

"恢复过程"非常详细"、您必须严格遵循供应商 Charles 的说明。   (尤其是(公认的)繁琐的"保留重置"。)

如果您是"与公司合作"、或许有一个"真实/正确的 JTAG/SWD 探针(J-Link)"- 该探针证明在恢复此类"死 MCU "方面"非常有效"！

您好、Charles、

LM Flash Programmer 刚刚给出了解锁已成功的消息、但闪存仍然具有固件、并且 MAC 地址也在此处(当我尝试使用 LM Flash Programmer 读取 MAC 时、我也会收到错误消息、 但我刷写的固件会将其读出)。 我尝试了多次此解锁过程(正如您所描述的那样)、但始终具有相同的结果。

感谢你的帮助、
Sara

您好、Sara、


1.您能否参阅本应用手册 www.ti.com/.../spma075.pdf 上的第5.3节 、然后重试解锁序列。 在为器件加电时、请首先按住复位按钮(不要松开它)、这一点很重要。


2.解锁序列后、您可以在"Other Utilities"选项卡下获取 LM 闪存编程器的屏幕截图吗？


3.如果这仍然不成功、您是否有另一个已知良好的 Launchpad、您可以使用解锁序列进行尝试。 我想知道您有电路板问题。


4.您是否有其他可从外部连接到 TM4C1294 Launchpad 的 JTAG 调试探针(Jlink、XDS 或其他)？ 如果您有一个、请尝试进行连接、然后从 IDE (即 CCS)尝试擦除闪存。


5.如果您有 XDS 调试探针(XDS100v2、XDS200)、则可以使用实用程序 dbgjtag.exe 解锁器件。 请遵循我参考的应用手册。

您好 CB1_MOBILE、

不幸的是，我没有 J-Link JTAG 来测试它

您好、Charles、

1.打开电源时不释放 RESET 按钮，请按照 LM Flash Programmer 提供的指令操作。 以下是释放 RESET 后的屏幕截图：

2.对电路板执行下电上电操作，并成功完成该过程

。

正在推出新的 EK-TM4C1294XL。 当它到达这里时、我会尝试它并通知您。

我有一个 XDS100v2、并且已经尝试使用 CSS 和 Uniflash 擦除闪存或下载新固件。 我得到的结果也是错误。 以下是 Uniflash 显示的错误的屏幕截图：

5.我使用 dbgjtag.exe 解锁电路板：

我仍然无法解锁电路板...

非常感谢您的帮助、

Sara

您好、Sara、

 很遗憾听到设备尚未恢复。 不确定根本原因是什么。 从屏幕截图中、MAC 地址全是 F。 因此、解锁似乎成功、但您仍然无法连接到目标。 如果解锁确实成功、则表示 JTAG 正常、因为解锁序列需要操纵 JTAG 接口以在解锁模式下进行扫描。 在电路板出现任何问题之前、MAC 地址已经是 F。 如果 MAC 地址从非 F 更改为所有 F、则解锁成功。

 在等待新电路板时、您可以检查：

 1.在问题板上、如果 VDD 和 VDDA 电源轨为3.3V。另请使用数字万用表检查 VDDC 电源轨是否为1.2V

 由于您有 XDS100、因此可以在 CCS 中运行扫描测试。 请参见下面的。

 我们来了解一下新电路板的结果。

您好、Charles、

LM Flash Programmer 在 MAC 地址表中显示的 F 是软件的默认值、它不是"实际"电流值、因为一旦我按下"Get current MAC address"、我就会在屏幕截图中看到我发送给您的错误。

我检查了您所感兴趣的内容：
VDD 和 VDDA 中为3.3V、VDDC 中为1.2V、这是正确的。

2.我使用以下输出运行扫描测试：

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\user\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
图书馆的建造日期为"2017年7月21日"。
库构建时间为'19：36：41'。
库软件包版本为'7.0.48.0'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7：扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

因此、扫描失败。

同时、新电路板也已送达。 它上的一切正常：我可以解锁它并对其进行重新编程、而且我在无法正常工作的电路板上运行的所有测试都在新电路板上运行。

主控制器的某些 JTAG 引脚是否可能损坏或损坏？ 如果是这种情况、您是否知道原因和方法？ 我不希望在新电路板或我们的任何产品中使用此微控制器再次出现这种情况。

非常感谢您的帮助！
Sara

您好、Sara、

 您能否获取 JTAG 接口的示波器捕获。 下面是我在运行连接测试时捕获的内容(TCK、TMS、TDI、TDO)。 您在 TDO 上看到了什么？

这种困难有许多潜在的"原因"。    海报失效的板和"外界"之间存在任何"外部连接"、这是未知的。    虽然 MCU 手册"建议"、"向未上电(或未完全上电) MCU 提供输入信号"-似乎是可以接受的(在某些情况下)、但我的公司更倾向于"防止此类信号到达- MCU 未上电时"。   这种策略将"信号与力量纪律"置于"希望与祈祷"之上。    (不要说"希望/祈祷"有什么太大的错误-除了他们的"最小化@最好的工程学校。)

我们公司采取额外的保护措施、在每个 JTAG/SWD 线路上使用低值串联电阻器。    和-如这里所述-使用外部上拉 Rs -其值比 MCU (自由)内部 Rs 低一个数量级-经证实、该内部 Rs 可在提供(部分)输入保护的同时产生更可靠的信令。

ESD 在出现问题时是一种"方便"的全面方法。    随着半导体几何尺寸的缩小、ESD 的 mayhem 可能性也会增加。     必须采用"正确的 ESD 管理-在组件到达/解封过程中的每个步骤-自动放置和回流-以及"成品板"测试/验证"。     请注意、"并非总是" ESD 损坏会立即显现出来！    在用户的情况下、沿着开箱/放置/回流/测试链、可能在任何地方都发生了损坏、甚至是重复损坏。    ESD 破坏通常会"增长和扩展"-(虽然尚未注明)、这会使发现 "关键、早期、ESD (时间和地点)到达的情况变得更加复杂！"    (这是一个时代-注定要失败的用户电路板...)

编程/调试工具的"破坏性潜力"也是未知之数、这"减去了更广为人知的"重大历史和长期成功"、而且这类工具的功能和范围也远远更广。 这些更新/功能不大的供应商工具(看起来)在任何情况下都能正常工作、这绝不会使他们从"主要嫌疑人"或"协助和教唆"(即同谋)"锁定问题"中删除- 遗憾的是、他们报告了大量且持续的规律性-就在这里...  

这解释了为什么这里有几个人建议使用"更知名、更有能力的编程/调试工具"-这些工具具有更长、更丰富的历史-并具有"供应商无关"所赋予的权力-表明它们具有卓越的深度、开发和覆盖范围...    消除此类(可怕的)锁定的"潜在来源"之一符合 kiss 标准-并提供(部分)积极的移动-(即明显(唯一)移动)以解决问题...

您好、Charles、
很抱歉、回答很晚、圣诞节假期... )
USB 接口对我来说似乎可以、更换电缆不会发生任何变化。
对于 TDO 信号、对于我来说、非工作板中的时钟始终为低电平(我在 TCK 上获得了时钟、TDI 也在发送数据、但 TDO 甚至不是处于高电平)。 新电路板上的一切正常：信号就像您发布的...
就像 CB1_MOBILE 所发布的那样、TDO 引脚由于 ESD 而不再工作是可能的吗？

非常感谢您的所有支持、
Sara

尊敬的 Fernandez 女士：

请注意、朋友 Charles (可能)在他的"挣的好"假期中"涉水穿越佛罗里达群岛的左边"。
他最敬业、熟练和感兴趣-但任何/所有的回应(可能很可能)都被延迟。

我必须指出，你对失败的董事会的"互连"保持"沉默"，无论何时，以任何方式，都与"外界"保持沉默！ 减去如此重要的信息-我们的"技能/装备不足"帮助者不太可能提供"有意义"的诊断...