[参考译文] TMS570LS1224：SRAM_ECC_ERROR_ENCERATION_2BIT 的 SRAM 自检失败。

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/649147/tms570ls1224-sram-self-test-for-sram_ecc_error_forcing_2bit-is-failing

器件型号：TMS570LS1224
主题中讨论的其他器件：HALCOGEN

大家好、团队、

我正在使用 Safe TI Diagnostic Library 2.3.1。我将使用安全 TI 诊断库 API 的 sl_SelfTest_SRAM 测试 SRAM。

以下测试用例失败

RetVal = sl_SelfTest_SRAM (SRAM_ECC_ERROR_ENCED_2BIT、TRUE、failInfoTCMRAM)；

当我进行调试时、我发现 sl_esmREG->SR1[2]始终为零。因此、以下条件始终失败。

if (((((UINT32)&sramEccTestBuff[2]和 TCRAM_RAMURADDR_UNC_ERRADD)== ram1uerraddr)
&&(((UINT32)&sramEccTestBuff[3]& TCRAM_RAMURADDR_UNC_ERRADD)==(ram2uerraddr))&&
((uint32)(1U <<ESM_G3ERR_B1TCM_ECC_Uncorr)==(sl_esmREG->SR1[2]和(uint32)(1U <<ESM_G3ERR_B1TCM_ECC_Uncorr))&&
((uint32)(1U <<ESM_G3ERR_B0TCM_ECC_Uncorr)==(sl_esmREG->SR1[2]和(uint32)(1U <<ESM_G3ERR_B0TCM_ECC_Uncorr))))｛

根据我的理解、SRAM_ECC_ERROR_ENCERATing_2BIT 会导致 ESM 组3 错误。

请告诉我为什么我的案例中 sl_esmREG->SR1[2]为 alwyas 零？我在哪里出错了？

此致、

Bharat

7 年多前

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2457760 points

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您好 Bharat、

首先、您知道 SafeTI 诊断库(SDL)有一个新版本。最新版本为2.4.0。我不知道过去是否有任何此测试报告的问题、但可能值得查看版本说明。

这个 sl_esmSR1[2]实际上是 ESM 状态寄存器3 (ESMSR3)寄存器、所以它显示为0这一事实表明错误没有被标记。如果对 ECC 数据的写入没有损坏 ECC、或者在启动期间未启用 ECC 进行导出、则可能会发生这种情况。您是否使用基于 Halcogen 的启动代码进行引导？您能否检查以确保在 Halcogen 中启用 ECC 作为引导配置的一部分？

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] TMS570LS1224：SRAM_ECC_ERROR_ENCERATION_2BIT 的 SRAM 自检失败。