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[参考译文] RTOS/TMS570LS3137:针对勘误表 PBIST#4的问题/澄清

Guru**** 2455360 points
Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/637052/rtos-tms570ls3137-questions-clarification-for-errata-pbist-4

器件型号:TMS570LS3137
主题中讨论的其他器件:HALCOGEN

工具/软件:TI-RTOS

您好!

我需要有关理解 errata_PBIST_4()函数的帮助。

 如果有人为我澄清以下几点、这将是一个很大的帮助

1、根据 勘误文档、SPNZ195g PBIST 软件需要重新运行 erata 函数、直到测试通过、但在最新的 Halcogen 代码中、当测试失败时、我看到测试正在重复。

2.我看到 Halcogen 代码正在使用1000个 PMU 计数,我想了解它是如何确定使用1000个周期的?

我们为什么将计数除以2?  

pmuCount = pmuCount - pmuCalibration;

PBIST_WAIT_DONE_LOOP =(((Int16) pmuCount/2)- 1000);//Sint

3.当 PBIST 时间过短(<80%)或过长(120%)时,测试被视为失败,那么为什么我们要检查 Halcogen 代码中的<=20和>=200以确定测试失败?

if ((PBIST_WAIT_DONE_LOOP <= 20)||(PBIST_WAIT_DONE_LOOP >=200))

谢谢

曼佐尔

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    Manzoor、您好!

    您能否确认您使用的器件版本? 如果您使用的是最新版本(修订版 D)、则无需担心这一点、因为它已修复。 如果您使用的是旧版本 Rev.C、则仍需要缓解措施。 对于您提出的特定问题的答案、我需要咨询我们的工程师之一、他们负责解决方法的调试和实现。
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    你好、Chuck、

    是的,我们仍在使用修订版 C,我想对其实施此勘误表,但需要对上述各点进行更清楚的说明。

    谢谢
    曼佐尔
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    这不是问题、但如果您尚未投入生产、我强烈建议您评估改用 Rev.D、因为这样的许多问题都已解决。

    我正在等待我们的专家对此主题的答复、并将在我获得更多信息后尽快回复您。
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    HALCoGen 中实现的权变措施与勘误文档权变措施部分中提供的权变措施不同。 (解决方法部分包括最近可能尚未阅读过的其他人。)

    PBIST 控制器是一个内存测试状态机 、此状态机执行一个存储在一个特殊 PBIST ROM 中的微代码。 在器件的早期版本中(查看您所用器件版本的勘误文档以查看此勘误表是否适用)、用于读取 PBIST ROM 的检测时序电路可能会使振荡加电。 每次读取 PBIST ROM 的尝试都会中断振荡、当时序正确时、读取尝试将停止振荡。 一旦振荡停止、在电路断电并重新上电之前就不会出现任何问题。 如果读取操作不会停止振荡、那么由此产生的误读微代码会导致 PBIST 停止而不会设置错误。 因此执行时间非常短。 这将有助于您了解 SPNS195中描述的变通办法。

    HALCoGen 中的算法不同。 它更复杂。 HALCoGen 代码实际上会将定制的微代码指令加载到可进行数千次 PBIST ROM 读取的 PBIST 状态机 RAM 中。 由于它不是从 PBIST ROM 中执行、ROM 的误读不会影响状态机。 使用此算法、测量执行时间可能会过长。

    现在、对于那些想要知道如何对 PBIST 状态机进行编程的人、抱歉。 这是专有信息、TI 不会披露。

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    感谢 Bob 的解释。

    非常有帮助。

    谢谢
    曼佐尔
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    尊敬的 Bob:

    请参阅下面的主题、

    e2e.ti.com/.../1450689


    是否必须按照上述链接中的建议修复此算法?


    谢谢
    曼佐尔
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    自2015年4月发布 HALCoGen 版本4.04.00以来、这一问题已得到修复。 HALCoGen 的当前版本为4.07.00。