主题中讨论的其他器件：INA240、 LM3S8971
ADC0 30MHz ADCCLK、 2MSPS、 SS2、无硬件取平均值、TSHN 编码0x0000。
然而、另一个奇怪的行为 模拟周期信号 需要500-600us 的稳定时间 、或者转换器完全错过了任何和所有采集。 订购器件为+VREFP-VREFN (图15-9)根据 ADC 代码 精度、mV 接近802uV、更不用说10mV 了。 从数字转换器的角度来看、AINx 通道上的 CADC 电荷共享 正在 等式的 SW 侧保持充电状态。 根据 CCS 寄存器调试结果、处理后的 FIFO 值主要基于数学非检测。 ADC0 ADCSSFSTATn 的 CCS 7.3寄存器调试 未正确指示 HPTR/TPTR 移动在 处理的数据 证明 它们应该移动时。 FIFO 结果数据 保持 极 低、 低于 0x14 LSB 、周期大于100mV 的 AINx 模拟信号。 在 这些特定的硬件条件下、这一点似乎与之相矛盾(图15-9)。
以上 是已记录的症状 (感知) 、对于 PWM 80us 周期性模拟信号源而言、ADC 性能非常差。 固件中的什么可能 导致低于 100mV 的超低 ADC 采集精度？
当 转换 中断以 500-600us 的间隔通过 GPTM OneShot 计时器触发时、为什么 ICDI 不通过最快的100ms 刷新间隔来播种任何 FIFO 值？ 然而 、GUI 范围小工具报告序列发生器在这些500-600us 间隔内生成了样本采集。 当 ICDI 版本12630无法正确报告寄存器活动时、我们应该如何解决固件问题？ 这些 ICDI 调试问题是否已在更高版本的闪存编程器 构建>1613中得到解决？ 当 CCS 调试无法对情况进行清晰分析时、有人甚至知道发生了什么情况？
在 AINx 上添加任何外部电容会导致超过 INA240 1nf 最大输出负载的过度开环增益误差。 设置 TSHN 编码>0x000会在 FIFO 中引入过多的开环增益误差，从而导致数据采集大于500mV。 这些是典型的电流测量值、而不是火箭科学、因此 TM4C ADC 会产生非常粗略的周期性模拟采集。 TM4C1294的最小值/最大值规格是多少、适用于任何模拟信号采集建立时间和保持时间？
AINx 输入 SNR/SNDR 是否可能>72db 标称值？ 是否会造成混乱、如果 出现这种情况、任何 TI SAR 兼容器件为什么没有规定的一致性措施？ 任何典型的客户如何能够测量 TM4C 电气规格中列出的这些级别？ 过去的 Stellaris 员工曾使用 FAN4174IP5X 运算放大 器测量 PWM 周期性电流、但后来发现更多有误的问题、从而对 LM3S8971 ADC 进行了硬件/软件权变措施。 当240难以应对 TM4C1294 ADC 时、嵌入前端 PWM 滤波器的 INA240如何使 OPAMP 简单工作简直令人困惑。
