我正在评估 TMS570LS3137、它用于安全关键型应用。 具体而言、我正在查看设计中的数据路径、以评估未检测到的错误数据或可用性丧失的风险。
预期的操作是从闪存中运行、还是从闪存中加载程序、然后从 SRAM 中运行？ 此外、每个处理器是否还可以选择到闪存和 SRAM 的独立数据路径？ 图1-1描述了一条单一路径、图6-10描述了为每个处理器分离 RAM 组而形成的真正冗余数据路径。 是否有一个应用手册解释了锁步函数保护的哪些方面？
此外、该设备是否有任何快速的 Nucletron 测试数据？ 我能找到的最好的地方是：
我对使用的实际测试程序以及如何确定测试率感兴趣。 我有机会在快速中子设施中测试该器件、因此如果有任何预罐装测试软件可用、我将对此非常感兴趣。 我将测量闪存、SRAM、FLOP 速率和 SEL。
您好 Brian、
请参阅以下部分中的我的答案。
预期的操作是从闪存中运行、还是从闪存中加载程序、然后从 SRAM 中运行？
>>应用程序通常加载到闪存中并从闪存中运行。 SRAM 用于堆栈、CPU 暂存区和临时变量。
此外、每个处理器是否还可以选择到闪存和 SRAM 的独立数据路径？ 图1-1描述了一条单一路径、图6-10描述了为每个处理器分离 RAM 组而形成的真正冗余数据路径。
>>两个 CPU 的输出中只有一个连接到互连。 图6-1显示了 SRAM (BTCM)的紧耦合存储器接口分为两个并行接口(B0TCM 和 B1TCM)。 这些接口是64位交错接口、允许多个主器件访问 SRAM、而不会引起仲裁冲突。
是否有一个应用手册解释了锁步函数保护的哪些方面？
>>没有特定于锁步功能的应用手册。 每个周期上的每个 CPU 输出与第二个 CPU 输出进行比较。 安全手册更详细地描述了这个诊断机制的重要性。
此外、该器件是否有任何快速中子测试数据？ 我能找到的最好的地方是：
我对使用的实际测试程序以及如何确定测试率感兴趣。 我有机会在快速中子设施中测试该器件、因此如果有任何预罐装测试软件可用、我将对此非常感兴趣。 我将测量闪存、SRAM、FLOP 速率和 SEL。
>>这是我们拥有的最佳数据。 我们可以提供有关测试程序的信息。 通常、此类信息通过下面的半私有论坛共享： 
访问此论坛需要 TI 与您的组织签订安全 TI NDA。 如果
您还没有 NDA、则可以在此处申请()。
此致、
Sunil
