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[参考译文] TMS570LS1114:ADC 采样问题

Guru**** 2394305 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS1114

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/748673/tms570ls1114-adc-sample-issue

器件型号:TMS570LS1114

大家好、

我的客户将 两个 ADC 通道 IB_C350和 UDC 配置为 ADC1组1样本、他们发现、即使 IB_C350上的电压保持不变、UDC 上的电压变化也会影响 IB_C350的 AD 值。

 

 0x00000001U |              //Group1 位0//  IB_C350

 0x00000002U |              //Group1 位1//  UDC,最后一个通道

 

例如、 如果 UDC 为0V、当输入电压为1.397V 时、IB_C350 AD 值为1724。

                        但是、如果 UDC 为3.3V、当输入电压保持1.397V 时、IB_C350 AD 值为1742。

 

但是、如果客户按如下方式更改配置、则添加一个始终稳定的 ADC 样本、如3.3V。 那么、UDC 上的电压变化不会影响 IB_C350的 ADC 样本。

 

     0x00000001U |           //Group1 位0//  IB_C350

    0x00000002U |           //Group1 位1//  UDC

     0x00000003U |           // 3.3基准稳定电压,最后一个通道

 

这意味着最后一个采样通道上的电压变化将影响第一个采样通道 AD 结果值。

 

您能否帮助进行分析并确定出现此问题的原因? 非常感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、很强、

    一段时间前、我发现了 ADC 通道采样共享问题、导致提出了器件勘误表 ADC#1。 我刚才已经检查了、此勘误表适用于 TMS570LS1114、如 SPNZ218C 链接中所述:

    也许这与您描述的问题有关。

    此致、Tony。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Tony、

    感谢您的回复。 我看到由以下情况引起的讨论 ADC 问题的勘误表:

    在以下情况下会发生此问题:
    一个 ADC 采样的共享输入通道上的输入电压为(VCCAD -
    0.3V)或更高、和
    2、第二个 ADC 对另一个通道进行采样、使其之间存在一定的重叠
    两个 ADC 的采样窗口

    但实际上、如果 UDC 上的电压低于3伏、仍然存在此问题、尽管它没有 UDC 为3.3V 时那么糟糕
    例如、如果 UDC 为0V、当输入电压为1.397V 时、IB_C350 AD 值为1724。
    如果 UDC 为1.23V、IB_C350 AD 值为1730、此时输入电压仍为1.397V。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!
    请查看此文件 :www.ti.com/.../spna118b.pdf

    此致、
    米罗