[参考译文] Hercules _SAFETY_MCU_DEMOS：从 N2HET#39；s 数字环回测试寄存器设置和读取值之间是否需要延迟？

您好、Peter、

我只是做了一个测试、没有看到您提到的问题。 这是我的代码：

//数字回送 NHET 0和 NHET 1；NHET 0是输出、NHET 1是输入
hetInit()；
hetPORT1->DCLR = 0xFFFFFFFF；
hetREG1->LBPDIR = 0x000A0001；
hetREG1->LBPSEL = 0x00000001；
hetPORT1->DSET |=(0x1)；
I =(hetPORT1->DIN & 0x02)；

while (1)；

您好 QJ、

您无法重现此问题、我对此并不感到惊讶。

我的原始代码没有延迟、它适用于我们的平台。

当我在更快的平台上运行相同的代码时、我开始看到数据不稳定问题。   

我的测试与您的测试稍有不同。  我将同时测试所有16个环回对。  我的伪代码与以下伪代码类似：

LBPSEL = 0x0000FFFF；

LBRDIR = 0x000AFFFF； //在另一个测试中、我将 tihs 值设置为0x000A0000以测试另一个方向

循环｛

  DOUT =图形

  读取 DIN

｝

我使用 DOUT 而不是 DSET / DCLR。  我认为这不是问题。

在速度更快的平台上、故障是即时且一致的。  请告诉我您是否可以重现此行为。

BR、

Peter C

 

您好、Peter、

这不是问题。 我尝试了两种模式：0x555555到输出0x1、0xAAAAAA 到输出0

当输出0时、DIN 应为0x00000000

当输出1时、DIN 应为0xFFFFFFFF

for (i=0；i<20；i++)｛
数据= 0x0；
pattern ^= 0xFFFFFFFF；
hetPORT1->DOUT =模式；
数据= hetPORT1->DIN；
if ((pattern = 0x555555)&&(data！= 0xFFFFFFFF)   
 while (1)；
if ((pattern ==0xAAAAAAAA)&&(data！=0x00000000))
 while (1)；
｝
while (1)；

您好 QJ、

感谢您的测试和验证。  让我总结一下我们当前的理解：

1.您无法在您的环境中重现上述问题。  您尝试使用 DIN 和 DOUT、就像我所做的那样、但无法重现问题。  基本上、该解决方案适合您、您不需要在写入模式和从回送硬件读取结果数据之间添加任何延迟。

2.我使用了相同的逻辑、但发现需要插入延迟元件、然后才能从回送硬件读正确的预期数据。  相同的代码在较慢的系统中工作、但在较快的系统上工作时不工作。  (我在同一受测单元和同一调试器上使用调试器测量了执行时间。  我的软件映像越快越慢、配置就越不同、我也没有这两者之间的配置差异列表)。  经验数据告诉我、我需要在较快的系统上增加延迟、以获得有效的环回测试结果。

我们可以尝试不同的策略吗？  是否正确地说 NHET 回送硬件实现不是瞬时转换。  也就是说、输出数据反映输入数据需要一定的时间。  您知道这段有限时间应该是多少吗？

最棒的

Peter C