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[参考译文] TMS570LS0714：CAN 控制寄存器的 InitDbg 位#16的源

admin
Guru**** 2030840 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/685619/tms570ls0714-source-of-initdbg-bit-16-of-the-can-control-register

器件型号：TMS570LS0714

当为 DCAN CAN_REG_n->ctl =(uint32_t)(MCAL_CTL_ABO | MCAL_CTL_PMD | MCAL_CTL_IE0 | MACL_CTL_IE1 | MCAL_CTL_SIE | MCAL_CTL_EIE)启用中断时、根据 TCAN 调试模式请求的位#16也会被内部设置为"CTL"访问模式；同时指示 TCAN 调试模式(TCTL 寄存器设置为 TCTL)。


 除了 CTL 的位#7 (偏移量0x00的测试模式使能位)外、该模式的源是什么？

如果置位、该位是否影响 DCAN 的运行？

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    TI__Guru**** 2030840 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Kime、

    正常 CAN 操作不应启用调试/挂起模式。 如果这个模式被启用、消息 RAM 不能通过 IFx 寄存器组访问。 但消息 RAM 内容可通过 VBUSP 接口访问。

    对于所有测试模式(内部回送、静默、外部回送等)、CAN 控制寄存器中的 Test 位需要设置为1。 这将启用到测试寄存器的写入访问。 测试模式从测试寄存器中选择。

    测试模式与调试/挂起模式不同。

    CAN_REG_n->ctl =(uint32_t)(MCAL_CTL_ABO | MCAL_CTL_PMD | MCAL_CTL_IE0 | MACL_CTL_IE1 | MCAL_CTL_SIE | MCAL_CTL_EIE)；

    在这一行中、我看不到#16位的变量