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[参考译文] TMS570LC4357:通过安全库2.3未通过每次自检

Guru**** 2470720 points
Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/675687/tms570lc4357-fails-every-self-test-via-safety-lib-2-3

器件型号:TMS570LC4357
主题中讨论的其他器件:HALCOGEN

你好。 希望在我的项目中添加自检。 使一切都与 Halcogen 中的示例相同。 (已将 src 文件添加到项目中、包含的文件、已将一些行添加到链接器文件中)。 但当我运行它时、它从第一次测试中就失败了、它是 PBIST 自检。 我禁用了所有 PBIST 自检(定义位于启动文件的顶部)、并决定转至 L2RAMECCCHECK。 它失败了。 然后我禁用了 l2Ram 并转到闪存。 它也失败了。 返回值始终为0 (false)。 可能是我的 LaunchPad 有什么用途? 项目在那里工作正常(温度传感器除外、但该螺纹已关闭)。 这是我的代码。 我创建了全新的项目、很清楚、但问题仍然存在。

e2e.ti.com/.../4135.safetyTest.zip

UPD:当我尝试 v 2.4时,PBISTS 测试已通过,但另一项没有通过(RAM、FLASH)

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    您好、Roman、

    支持的最大 PBIST ROM_CLK 频率为82.5MHz。 ROM_CLK=GCLK1/ROM_DIV、其中 ROM_DIV 由 MSTGCR 的位9:8定义。 请检查是否已对分频器进行了编程。

    2.我用附加的简化测试用例进行了 SRAM 自检测试、它工作正常

    e2e.ti.com/.../5531.SL_5F00_LC43x_5F00_SampleCode.zip

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    已运行 您的示例。 它进入这里的无限循环

    可能是我的 LaunchPad 有什么用途? 相同的代码适用于您、但不适用于我。

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    您好、Roman、

    您是否已解决问题? 我在工作台上测试了几次、没有发现问题。
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    你好、不 我没有解决这个问题 不知道在哪里搜索。 因为 您发送给我的示例中的测试 不适用于我的焊盘。 不知道原因、因为项目是相同的。

    这是焊盘吗? 因为温度传感器也不能正常工作。 我找不到其他解释

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    您好、Roman、

    您没有额外的 LaunchPad 可供尝试吗?